[发明专利]一种集成电路测试系统总定时准确度测量装置和方法

权利要求书

1.一种集成电路测试系统总定时准确度测量装置，其特征在于，包括能依次与集成电路测试系统(1)的各个通道连接的采样测量模块(3)、与采样测量模块(3)的输入端连接的外部参考时钟模块(5)、与采样测量模块(3)连接的数据处理模块(6)；

其中，外部参考时钟模块(5)输出的参考时钟序列的周期为所述通道输出的数据序列的周期的整数倍；采样测量模块(3)在参考时钟的上升沿/下降沿开始测量每个通道的数据序列；数据处理模块(6)根据采样测量模块(3)测量到的所有通道的数据序列确定总定时准确度；

所述集成电路测试系统总定时准确度测量装置还包括通道切换模块(2)、控制模块(4)，集成电路测试系统(1)的各个通道与通道切换模块(2)的输入端连接，通道切换模块(2)的输出端与采样测量模块(3)的输入端连接；控制模块(4)分别与集成电路测试系统(1)、通道切换模块(2)、采样测量模块(3)、外部参考时钟模块(5)的控制端连接，控制模块(4)用于控制通道的输出数据序列、通道切换模块(2)切换测量的通道、采样测量模块(3)的测量时刻以及外部参考时钟模块(5)输出的参考时钟序列的周期；

所述数据处理模块(6)包括获取单元(6.1)、电平中点值确定单元(6.2)、跳变点时间确定单元(6.3)、总定时准确度确定单元(6.4)；

获取单元(6.1)用于读取采样测量模块(3)测量到的每个通道的数据序列；

电平中点值确定单元(6.2)采用密度聚类算法对获取单元(6.1)获取的每个通道的数据序列进行聚类分析，获得的两个簇的中心分别为高电平值和低电平值，高电平值与低电平值的均值即为所述每个通道的电平中点值；

跳变点时间确定单元(6.3)根据所述每个通道的电平中点值确定所述每个通道的数据序列中的跳变点，并确定所述每个通道的数据序列中的第一跳变点到最后一个跳变点经过的半周期个数和时间、第一个数据到第一个跳变点的初始跳变时间，同时根据所述每个通道的数据序列中的第一跳变点到最后一个跳变点经过的半周期个数和时间确定每个半周期跳变点理论时间；

总定时准确度确定单元(6.4)根据所有的所述每个通道的第一个数据、初始跳变时间和每个半周期跳变点理论时间，或者根据所有的所述每个通道的每个半周期跳变点理论时间和每个半周期跳变点实际时间，确定集成电路测试系统的总定时准确度。

2.根据权利要求1所述的一种集成电路测试系统总定时准确度测量装置，其特征在于，当总定时准确度确定单元(6.4)根据所有的所述每个通道的第一个数据、初始跳变时间和每个半周期跳变点理论时间确定总定时准确度时，总定时准确度确定单元(6.4)以所述每个通道的每个半周期跳变点理论时间为基准合成单个通道的眼图，再以每个通道的第一个数据为基准、以对应的初始跳变时间为偏移量将所有通道的眼图合并成一个复合眼图，所述复合眼图的水平方向的眼厚即为集成电路测试系统的边沿置放准确度，边沿置放准确度的2倍即为总定时准确度。

3.根据权利要求1所述的一种集成电路测试系统总定时准确度测量装置，其特征在于，当总定时准确度确定单元(6.4)根据所有的所述每个通道的每个半周期跳变点理论时间和每个半周期跳变点实际时间确定总定时准确度时，总定时准确度确定单元(6.4)将所述每个通道的每个半周期跳变点实际时间与对应的每个半周期跳变点理论时间的差值确定为所述每个通道的每个半周期偏移时间，再将所有通道的每个半周期偏移时间中的最大值与最小值之差确定为集成电路测试系统的边沿置放准确度，边沿置放准确度的2倍即为总定时准确度。