[发明专利]芯片烧录测试设备及方法

权利要求书

1.一种芯片烧录测试设备，用以烧录或测试多个芯片，该多个芯片被各自放置于一托盘的多个凹槽内，并各具有多个接脚，其特征在于，该芯片烧录测试设备包括：

一基座；

一载盘，包括多个容置槽，该载盘可叠置在该托盘上，并能在叠置后使该多个容置槽正对该托盘的多个凹槽，藉由同时翻转该托盘与该载盘而使该多个芯片倒置在该载盘的多个容置槽内，使得各该芯片的该多个接脚背向该载盘；

一探针板，设置于该基座上，该探针板包括多个探针；

一放置架，设置于该基座上，用以提供该载盘放置后对应该探针板，以使该多个接脚对准该多个探针；

一驱动机构，设置于该基座上，该驱动机构包括一把手杆、一连动杆、一驱动件及一导轨，该导轨设置于该基座上，该把手杆具有一第一端及一第二端，其中该第二端设有一第一穿孔及一第二穿孔，该把手杆藉由一锁固件穿设该第一穿孔而可旋转地设于该基座上，该连动杆的一端连接该驱动件，该连动杆的另一端藉由另一锁固件穿设该第二穿孔而连接该把手杆的该第二端，该驱动件可移动地结合设置于该导轨中；藉此，通过转动该把手杆，使该驱动件在该连动杆的带动及该导轨的限位下朝该探针板移动，以将该载盘朝该探针板推移，以使倒置在该载盘上的该多个芯片的该多个接脚其中的一接脚接触各该探针；以及

一主机装置，与该探针板电性连接，该主机装置用以在该接脚接触各该探针时，对该多个芯片进行测试或数据烧录。

2.根据权利要求1所述的芯片烧录测试设备，其特征在于，该放置架包括一滑轨机构，该载盘能够拆卸地与该滑轨机构结合，并通过该滑轨机构而于该放置架上位移。

3.根据权利要求1所述的芯片烧录测试设备，其特征在于，该探针板及该载盘的数量皆为多个，且各该载盘置于该放置架后，各自对应不同的探针板。

4.根据权利要求3所述的烧录测试设备，其特征在于，各该载盘置于该放置架后，多个载盘与多个探针板相互交错排列成一直线。

5.根据权利要求1至4任一项所述的芯片烧录测试设备，其特征在于，更包括一温度调节箱体，该探针板位于该温度调节箱体内，该温度调节箱体用以提供一测试温度，以使该主机装置更能在该接脚接触各该探针时，对该多个芯片进行预烧测试。