[发明专利]逐次逼近寄存器型模数转换器、校正方法及电子装置

说明书

本发明实施例提供了一种逐次逼近寄存器型模数转换器、校正方法及电子装置。其中该逐次逼近寄存器型模数转换器包括：比较模块，用于产生第一比较结果和第二比较结果，其中该第一比较结果是通过比较该逐次逼近寄存器型模数转换器的输入电压值与第一电压值而产生的，该第二比较结果是通过比较该输入电压值与第二电压值而产生的；以及校正模块，耦接至该比较模块，用于根据该第一比较结果和该第二比较结果来产生测量结果，其中该测量结果用来确定该输入电压是否在预定的电压范围内，并且该校正模块用于根据该测量结果进入校正模式。本发明实施例的逐次逼近寄存器型模数转换器，能够实现高的分辨率。

技术领域

本发明涉及电子电路技术领域，尤其涉及一种逐次逼近寄存器型模数转换器、校正方法及电子装置。

背景技术

在先进的集成电路工艺中，当无源元件(更具体地，电容器)并不小时，该无源元件(如电容器)很可能有不匹配(mismatch)的问题。如此导致要求高精度的电路的性能低下(如，低的分辨率)，特别是对于含有CDAC(Capacitor-based Digital-to-AnalogConverter，基于电容器的数模转换器)的ADC(Analog-to-Digital Converter，模数转换器)，诸如SAR(Successive Approximation Register，逐次逼近寄存器型)ADC。因此，在本领域中，极切地期望一种用于ADC的校正机制，能够校正由电容器引起的不匹配，从而得到高分辨率。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例提供了一种逐次逼近寄存器型模数转换器、校正方法及电子装置，能够实现高分辩率。

本发明提供了一种逐次逼近寄存器型模数转换器，包括：比较模块，用于产生第一比较结果和第二比较结果，其中该第一比较结果是通过比较该逐次逼近寄存器型模数转换器的输入电压值与第一电压值而产生的，该第二比较结果是通过比较该输入电压值与第二电压值而产生的；以及校正模块，耦接至该比较模块，用于根据该第一比较结果和该第二比较结果来产生测量结果，其中该测量结果用来确定该输入电压是否在预定的电压范围内，并且该校正模块用于根据该测量结果进入校正模式。

其中，当该测量结果确定该输入电压值在该预定的电压范围内时，该校正电路进入校正模式。

其中，还包括：逐次逼近寄存器型逻辑电路，用于产生n位的输出信号，其中n为正整数；其中，该校正电路用于根据该测量结果，对该n位的输出信号中的至少一位执行加权数校正操作。

其中，该至少一位中的每一位均对应一个加权数。

其中，该校正电路，用于顺序地和反复地对该至少一位中的每一位执行该加权数校正操作，其中第n位为该输出信号的最高有效位。

其中，还包括：数字修正电路，用于调整该至少一位中的每一位对应的加权数。

其中，还包括：基于电容器的数模转换器，与该比较模块耦接，用于对输入电压进行采样，以生成采样输入电压，其中该采样输入电压作为该逐次逼近寄存器型模数转换器的该输入电压值；其中，该基于电容器的数模转换器包括：多个电容器以及对应该多个电容器的多个开关，其中每个电容器对应该输出信号中的一位。

其中，该逐次逼近寄存器型逻辑电路，用于将该输出信号中的第k位设置为第一逻辑值，以产生第一输出结果，其中k为不大于n的正整数；以及，将该输出信号中的该第k位设置为第二逻辑值，以产生第二输出结果，其中该第二逻辑值不同于该第一逻辑值；

其中，该第一输出结果是在该第k位被设置为该第一逻辑值之后，从该输出信号的加权和产生，以及该第二输出结果是在该第k位被设置为该第二逻辑值之后，从该输出信号的加权和产生；

该校正电路，用于根据该第一输出结果和该第二输出结果，调整该第k位对应的加权数；