[发明专利]光学测量装置有效
| 申请号： | 201710036547.0 | 申请日： | 2017-01-18 |
| 公开（公告）号： | CN107229246B | 公开（公告）日： | 2020-11-10 |
| 发明（设计）人： | 岛田浩二;近藤智则 | 申请（专利权）人： | 欧姆龙株式会社 |
| 主分类号： | G05B19/05 | 分类号： | G05B19/05;G01B11/02 |
| 代理公司： | 隆天知识产权代理有限公司 72003 | 代理人： | 崔炳哲 |
| 地址： | 日本京都*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 光学 测量 装置 | ||
【权利要求书】：
1.一种光学测量装置，其构成为具有使主站装置以及从站装置之间的时刻同步的同步功能且可与工业网络连接，其特征在于，
包括：
接口部，其接收从所述主站装置以一定的通信周期发送到所述工业网络的同步信号，
测量部，其根据测量周期进行光学测量；
每当所述接口部接收到所述同步信号，所述测量部校对通信周期与测量周期之间的误差，使测量时刻与所述通信周期同步。
2.根据权利要求1所述的光学测量装置，其特征在于，
所述测量部对在所述通信周期内的多个测量周期进行测量所获得的多个值执行计算处理并计算出测量值。
3.根据权利要求1所述的光学测量装置，其特征在于，
所述测量周期为所述通信周期的1/N或N倍，其中，所述N为1以上的整数。
4.根据权利要求1所述的光学测量装置，其特征在于，
所述测量部在从所述同步信号的接收开始经过补偿时间后，开始所述测量。
5.根据权利要求1～4中任一项所述的光学测量装置，其特征在于，
所述光学测量装置为光学式位移传感器。
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