[发明专利]提高非晶带材产品叠片系数的方法

权利要求书

1.一种提高非晶带材产品叠片系数的方法，其特征是，包括以下步骤：

（1）在分卷设备上，在运行带材的上方设置多组用于检测带材厚度的传感器和用于记录长度的长度编码器；所述传感器沿带材宽度方向布置；

（2）在分卷设备上将带材进行分卷，得到小卷；对每一小卷生成唯一标识编码；

（3）分卷设备进行分卷时，传感器将带材宽度方向多点的厚度值传输至控制系统，控制系统建立以带材长度为基准、带材宽度方向多个传感器检测的带材厚度值的数据信息，并将该数据信息上传服务器中该小卷对应的数据库中；

（4）在小卷分卷结束后，取样一片测试小样，测试小样在电磁性能测试设备上进行测试，电磁性能测试设备沿带材宽度方向进行多点测试；测试后电磁性能测试数据上传服务器的该卷带材的数据库中；

（5）合卷操作时，控制系统根据数据库中现有的合格小卷，匹配出最佳的多个小卷进行合带作业，以生产出性能优化的带材；

所述步骤（5）中，控制系统匹配小卷的具体方法如下：

a、在电磁性能合格、厚度值小于允许误差的合格带材小卷中，匹配出最佳的2卷使其生成一卷，保证该卷的厚度误差值仍小于厚度允许误差，并使带材端面的平均厚度差最小；

b、重复步骤a的方法，匹配出若干组最佳的2卷；

c、在步骤a、步骤b得到的若干组2卷中进行匹配，匹配出最佳的2组或多组使其生成一卷，保证该卷的厚度误差值仍小于厚度允许误差，并使带材端面的平均厚度差最小；

d、根据生产需要，在步骤c得到的带材上再匹配1卷使生成一卷，保证该卷的厚度误差值仍小于厚度允许误差，并使带材端面的平均厚度差最小；从而完成合卷。

2.如权利要求1所述的提高非晶带材产品叠片系数的方法，其特征是：所述传感器采用X射线、激光或电磁感应类型的传感器。

3.如权利要求1所述的提高非晶带材产品叠片系数的方法，其特征是：所述步骤（2）中根据每一小卷批号、规格、日期、时间生成唯一标识编码。

4.如权利要求1所述的提高非晶带材产品叠片系数的方法，其特征是：所述步骤（2）中标识编码采用条形码、二维码或数字编码。

5.如权利要求1所述的提高非晶带材产品叠片系数的方法，其特征是：所述步骤（3）中数据信息采用数据曲线或数据表的形式。

6.如权利要求1所述的提高非晶带材产品叠片系数的方法，其特征是：在分卷设备生产一定时间，积累了一定数据的小卷后再进行合卷作业。

7.如权利要求1所述的提高非晶带材产品叠片系数的方法，其特征是：所述步骤（4）中，测试小样上带有对应小卷的标识编码。

8.如权利要求1所述的提高非晶带材产品叠片系数的方法，其特征是：所述步骤（3）中，测试后电磁性能测试数据通过无线网络上传服务器的该卷带材的数据库中。

9.如权利要求1所述的提高非晶带材产品叠片系数的方法，其特征是：在进行厚度检测时，对单面超过误差允许值的带材作为不合格，做好标记并报警；测试小样进行电磁性能测试时，对电磁性能不合格的，做好标记。