[发明专利]数据检测装置有效

专利信息
申请号: 201710044766.3 申请日: 2014-10-22
公开(公告)号: CN106813688B 公开(公告)日: 2019-11-01
发明(设计)人: 海老根徹;奥村宏克;小田切秀行;常田晴宏 申请(专利权)人: 日本电产三协株式会社
主分类号: G01D5/12 分类号: G01D5/12
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 沈捷
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 数据 检测 装置
【说明书】:

一种即使在采用过采样的情况下也能够提高来自两个检测部的数据的同时性的数据检测装置。本发明的数据检测装置具有:第一检测部;第二检测部;数据获取部,其在按照每一固定时间设定有多个时点的数据检测期间内,在第奇数次与第偶数次中的一方的时点获取来自所述第一检测部的第一数据,并且在第奇数次与第偶数次中的另一方的时点获取来自所述第二检测部的第二数据;以及检测值决定部,其基于所述第一数据决定所述数据检测期间内的第一检测值,基于所述第二数据决定所述数据检测期间内的第二检测值,在所述数据获取部中,将在所述数据检测期间内获取所述第一数据的次数与获取所述第二数据的次数之和设为三次以上。

本申请是申请人于2014年10月22日提交的、申请号为“201410566904.0”,名称为“检测装置的数据检测方法以及检测装置”的发明专利申请的分案申请。

技术领域

本发明涉及一种旋转编码器等的检测装置的数据检测方法以及检测装置。

背景技术

在检测旋转体相对于固定体的旋转的旋转编码器中,例如设置有磁传感器装置(检测装置),所述磁传感器装置在旋转体侧设置有磁铁,在固定体侧具有磁阻元件或霍尔元件。在这样的磁传感器装置中,例如,在具有磁阻元件的磁传感器装置中,在基板的一面形成有磁阻膜,并基于从由磁阻膜构成的两相(A相和B相)的桥接电路输出的两个输出,检测旋转体的角速度和角度位置等(例如,参考专利文献1)。

即如图7所示,由于A相的输出表示正弦波,B相的输出表示余弦波,因此若以在固定的时点获取的A相数据与B相数据来求反正切,则能够求得磁铁相对于磁传感器装置的角度位置。

专利文献1:日本特开2012-118000号公报

在上述的旋转编码器中,对A相数据和B相数据均要求要有很高的可靠性。因此,如图7示意表示那样,采用在数据检测期间T内按照每一固定时间设定有多个时点,并利用在第奇数次的时点(时间t1、t3、t5)获取的A相数据的算数平均数和在第偶数次的时点(时间t2、t4、t6)获取的B相数据的算数平均数求反正切的过采样。

然而,在图7所示的过采样中,由于A相数据的算数平均数与时间t3的数据对应,而B相数据的算数平均数与时间t4的数据对应,因此在A相数据的算数平均数与B相数据的算数平均数之间存在时间差。因而,存在根据A相数据与B相数据求反正切时,不能够高精度地求得磁铁相对于磁传感器装置的角度位置的问题。

发明内容

鉴于以上问题,本发明的课题在于提供一种即使在采用过采样的情况下,也能够提高来自两个检测部的数据的同时性的检测装置的检测方法以及检测装置。

为了解决上述课题,本发明所涉及的检测装置的数据检测方法的特征在于,具有数据获取工序以及检测值决定工序,所述数据获取工序在按照每一固定时间设定有多个时点的数据检测期间内,在第奇数次与第偶数次中的一方的时点获取来自第一检测部的第一数据,并且在第奇数次与第偶数次中的另一方的时点获取来自第二检测部的第二数据;所述检测值决定工序基于所述第一数据决定所述数据检测期间内的第一检测值,并且基于所述第二数据决定所述数据检测期间内的第二检测值,在所述数据获取工序中,将在所述数据检测期间内获取所述第一数据的次数与获取所述第二数据的次数之和设为三次以上的奇数次。

并且,本发明所涉及的检测装置的特征在于,具有:第一检测部;第二检测部;数据获取部,其在按照每一固定时间设定有多个时点的数据检测期间内,在第奇数次与第偶数次中的一方的时点获取来自所述第一检测部的第一数据,并且在第奇数次与第偶数次中的另一方的时点获取来自所述第二检测部的第二数据;以及检测值决定部,其基于所述第一数据决定所述数据检测期间内的第一检测值,基于所述第二数据决定所述数据检测期间内的第二检测值。

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