[发明专利]一种硅表面金属化方法在审
申请号: | 201710046807.2 | 申请日: | 2017-01-22 |
公开(公告)号: | CN106653630A | 公开(公告)日: | 2017-05-10 |
发明(设计)人: | 孙旭东;惠宇;毕孝国;刘旭东 | 申请(专利权)人: | 大连大学 |
主分类号: | H01L21/60 | 分类号: | H01L21/60 |
代理公司: | 大连智高专利事务所(特殊普通合伙)21235 | 代理人: | 毕进 |
地址: | 116622 辽宁省*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 表面 金属化 方法 | ||
技术领域
本发明涉及一种金属化方法,具体说是一种硅表面金属化方法。
背景技术
由于钎焊料不能直接润湿硅表面,因此,当硅基板表面刻蚀电路或者硅基板之间的焊接时,需要在焊料与硅晶圆之间生长一层金属化层UBM,这个过程称为硅基板的金属化。
传统的硅基板金属化方法是:(1)首先,在硅基板(硅晶圆)表面用溅射的方法生长一层粘附层材料,粘附层材料是钛或者铬,厚度在50~200nm;(2)然后,用电镀或化学镀的方法生长一层阻挡层,阻挡层材料通常是镍,厚度在5~20um;(3)最后,用蒸发或溅射方式生长一层保护层,常见的保护层材料是金、铂、钯,厚度在50~500nm。这种传统的硅基板金属化方法缺点是在常温下进行,金属化层与硅基板之间属于物理机械连接,依靠机械咬合力粘合到一起,不含有化学键,没形成冶金连接,因此在结合力,热传导等方面性能都比较差,而且工艺复杂,成本高。
发明内容
针对现有技术存在的上述缺点,本发明涉及一种硅表面金属化方法,该方法不需要后期热处理,节约大量能源,成本低;比以往的金属混合物相比,更简单,导电性、导热性更好。
为实现上述目的,本申请采用的技术方案是:一种硅表面金属化方法,具体包括:通过激光扫描,在硅基板表面完全覆盖上激光烧结的金属导电层。
进一步的,上述方法使用的激光为CO2激光,波长为10.6μm。
进一步的,所述金属导电层为均匀金属导电层。
进一步的,上述方法具体实施步骤为:
步骤一:根据硅基板尺寸,绘制出金属化形状;
步骤二:在硅基板表面的金属化形状内均匀涂覆金属粉末,厚度在1-100微米之间,放到烘箱里进行干燥处理;
步骤三:将涂覆金属粉末层的硅基板放到激光工作台上,进行激光扫描,激光扫描烧结结束,硅表面全部金属化;
更进一步的,上述还包括:
步骤四:金属化处理后的硅基板等待焊接,或者进行表面电路刻蚀。
作为更进一步的,所述硅基板包括单晶硅,多晶硅基板。
作为更进一步的,所述的金属粉末包括铜粉,钼粉,银粉,钨粉,铬粉,钛粉,粒度在0.3-10μm之间。
本发明由于采用以上技术方案,能够取得如下的技术效果:
1.本发明为局部加热,因此工件整体其他部分处于常温状态,不影响破坏其他部分的功能。以往的金属化方法为:放入加热炉中进行加热,使得工件整体处于同样的高温,如果工件其他部分不耐高温,其功能将丧失。
2.与以往的高温烧结技术相比,本发明不需要后期热处理,节约大量能源,高温烧结炉的功率为10KW左右,而本发明所使用设备功率不超过300W,因此本发明方法节约大量能源,成本低。
3.本发明的金属层为单一金属均匀导电层,比以往的金属混合物相比,更简单,导电性,导热性更好。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚,下面结合具体实施例对本发明进行详细描述。
实施例1
S1.使用Coredraw软件在电脑中绘制相关金属化面积矩形;
S2.将50*50*1mm的硅基板(导热率150W/ms)放在激光切割机工作台上;
S3.在其表面均匀涂覆镍粉;
S4.打开激光切割机,开始进行激光扫描烧结,扫描速度为80mm/s;
S5.表面金属化的硅基板,表面进行电镀防腐处理;
S6.处理后的样品等待焊接,或者表面电路刻蚀。
实施例2
S1.使用Coredraw软件在电脑中绘制相关金属化面积矩形;
S2.将50*50*1mm的硅基板(导热率150W/ms)放在激光切割机工作台上;
S3.在其表面均匀涂覆钼粉;
S4.打开激光切割机,开始进行激光扫描烧结,扫描速度为60mm/s;
S5.表面金属化的硅基板,表面进行电镀防腐处理;
S6.处理后的样品等待焊接,或者表面电路刻蚀。
实施例3
S1.使用Coredraw软件在电脑中绘制相关金属化面积矩形;
S2.将50*50*1mm的硅基板(导热率150W/ms)放在激光切割机工作台上;
S3.在其表面均匀涂覆钨粉;
S4.打开激光切割机,开始进行激光扫描烧结,扫描速度为40mm/s;
S5.表面金属化的硅基板,表面进行电镀防腐处理;
S6.处理后的样品等待焊接,或者表面电路刻蚀。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造