[发明专利]间歇式低压表面反应装置在审

专利信息
申请号: 201710051978.4 申请日: 2017-01-23
公开(公告)号: CN107870192A 公开(公告)日: 2018-04-03
发明(设计)人: 黄华 申请(专利权)人: 黄华
主分类号: G01N27/62 分类号: G01N27/62;G01N31/10;H01J49/04
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100000 北京市海*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 间歇 低压 表面 反应 装置
【权利要求书】:

1.一种间歇式低压表面反应装置,包括:反应釜(1);通过管路,依次与所述反应釜(1)连接的储气瓶(2)、气源(3);与所述反应釜(1)连接,并用于抽取所述反应釜(1)内部气体的真空泵(4);与所述反应釜(1)连接,并用于测量所述反应釜(1)内部气体成分的质谱仪(7);通过电性方式与所述反应釜(1)连接的温度控制器(5);所述温度控制器(5)包括热电偶(51)、与所述热电偶(51)电性连接的温度控制箱(52);其特征在于,还包括:设置在所述反应釜(1)内部的冷凝管(11);填充在所述冷凝管(11)内部的冷却介质(111);分别设置在所述反应釜(1)两侧的进气口(12)、出气口(13);通过所述进气口(12),与所述储气瓶(2)连接的进气管(14);按照气体流入所述反应釜(1)的方向,依次安装在所述进气管(14)上的流量控制器一(141)、单向阀一(142);通过所述出气口(13),与所述质谱仪(7)连接的出气管(15);按照气体流出所述反应釜(1)的方向,依次安装在所述出气管(15)上的流量控制器二(151)、单向阀二(152)。

2.根据权利要求1所述的间歇式低压表面反应装置,其特征在于,还包括:安装在所述反应釜(1)的顶端,并用于测定所述反应釜(1)内部气体压力的真空规一(6);安装在所述储气瓶(2)的顶端,并用于测定所述储气瓶(2)内部气体压力的真空规二(8);设置在所述反应釜(1)与所述质谱仪(7)之间的可调节泄露阀一(9);位于所述反应釜(1)和所述储气瓶(2)之间的可调节泄露阀二(10)。

3.根据权利要求1所述的间歇式低压表面反应装置,其特征在于,所述气源(3)数目为多个,并且顶端安装有泄露阀(31)和流量控制器三(32)。

4.根据权利要求1所述的间歇式低压表面反应装置,其特征在于,所述热电偶(51)插入所述反应釜(1)的内部,并且所述热电偶(51)表面通过黑色氧化处理。

5.根据权利要求1所述的间歇式低压表面反应装置,其特征在于,所述冷却介质(111)包括但不限于冷凝气体,也可为冷凝液体。

6.根据权利要求1所述的间歇式低压表面反应装置,其特征在于,所述流量控制器一(141)、所述流量控制器二(142)和所述流量控制器三(32)均包括但不限于质量流量计。

7.根据权利要求1所述的间歇式低压表面反应装置,其特征在于,所述单向阀一(142)朝向所述反应釜(1)为开通方向。

8.根据权利要求1所述的间歇式低压表面反应装置,其特征在于,所述单向阀二(152)朝向所述质谱仪(7)为开通方向。

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