[发明专利]分析工具以及分析装置在审
申请号: | 201710057508.9 | 申请日: | 2017-01-26 |
公开(公告)号: | CN107024593A | 公开(公告)日: | 2017-08-08 |
发明(设计)人: | 松本大辅;田中贵茂;小田垣徹 | 申请(专利权)人: | 爱科来株式会社 |
主分类号: | G01N35/00 | 分类号: | G01N35/00;G01N35/04 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司11127 | 代理人: | 王小东 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 分析 工具 以及 装置 | ||
1.一种分析工具,该分析工具被构造成安装至自动分析样品中所含的特定成分的分析装置,所述分析工具包括:
光测量井,所述光测量井保持作为测量对象的测量溶液并且测量所述测量溶液,所述光测量井包括:开口,所述开口分配所述测量溶液;测量溶液保持部,所述测量溶液保持部保持经由所述开口分配的所述测量溶液;以及发射部,所述发射部使测量光沿所述分析装置的光接收方向发射,并且所述测量光被致使从保持在所述测量溶液保持部中的所述测量溶液发射,
其中,所述测量光是荧光或者化学发光,并且
其中,所述测量溶液保持部具有沿所述光接收方向扁平的扁平轮廓。
2.根据权利要求1所述的分析工具,其中,
所述光测量井包括扁平面,并且形成为总体扁平从而匹配所述测量溶液保持部的形状;并且
所述发射部设置在所述扁平面处。
3.根据权利要求1或者2所述的分析工具,其中,
所述测量溶液在所述扁平轮廓的剖面的横向方向上的高度定义为所述光测量井的槽长度;并且
所述槽长度是3mm或者更小。
4.根据权利要求1或者2所述的分析工具,所述分析工具还包括反应管,所述反应管产生所述测量溶液。
5.根据权利要求1或者2所述的分析工具,其中,在所述测量光是荧光的情况下,将待生成所述测量光的激发光从所述光测量井的除所述发射部以外的部分照射到所述测量溶液上。
6.根据权利要求5所述的分析工具,其中,所述激发光的照射方向与所述测量光的所述光接收方向对准。
7.一种包括权利要求1或者2所述的分析工具的分析装置,所述分析装置包括检测所述测量光的检测器。
8.根据权利要求7所述的分析装置,所述分析装置还包括测量光波长选择滤光器,所述测量光波长选择滤光器限制所述测量光的波长。
9.根据权利要求8所述的分析装置,其中,所述测量光波长选择滤光器具有预定波长吸收特性。
10.根据权利要求9所述的分析装置,其中,所述测量光波长选择滤光器是有色玻璃滤光器。
11.根据权利要求7所述的分析装置,所述分析装置还包括集光构件以收集所述测量光。
12.根据权利要求11所述的分析装置,其中,所述集光构件是导光件。
13.根据权利要求7所述的分析装置,在所述测量光是荧光的情况下,所述分析装置还包括:
光源,所述光源照射激发光以使所述测量溶液发射荧光;以及
激发光波长选择滤光器,所述激发光波长选择滤光器限制所述激发光的波长。
14.根据权利要求13所述的分析装置,其中,所述激发光波长选择滤光器具有预定波长吸收特性。
15.根据权利要求13所述的分析装置,其中,所述激发光波长选择滤光器是有色玻璃滤光器。
16.根据权利要求7所述的分析装置,其中,
所述分析工具被构造成使得所述光测量井的槽长度由所述测量溶液在所述扁平轮廓的剖面的横向方向上的高度确定,并且能通过改变所述测量溶液的量改变所述光测量井的所述槽长度,并且所述分析装置还包括:
喷嘴;以及
控制器,所述控制器控制所述喷嘴以及所述检测器的操作,所述控制器被构造成在所述检测器的输出值饱和的情况下,通过将所述测量溶液抽吸到所述喷嘴中来减少所述测量溶液的量以缩短所述槽长度,然后使所述检测器重新进行测量。
17.根据权利要求16所述的分析装置,其中,基于从利用所述检测器检测所述测量光直到所述检测器的所述输出值达到饱和状态耗费的时间来确定所述测量溶液要被减少的量。
18.根据权利要求17所述的分析装置,其中,基于从利用所述检测器检测所述测量光直到所述检测器的所述输出值达到饱和状态耗费的时间以及在预定作为所述测量溶液的初始反应时期的预定时期内所述检测器的所述输出值的增大率,确定所述测量溶液要被减少的量。
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