[发明专利]分析工具以及分析装置

说明书

技术领域

本文中公开的技术涉及能够通过高灵敏度检测荧光或者化学发光而高精度地分析样品中的特定成分的分析工具以及分析装置。

背景技术

到目前为止，在利用聚光器调节成将激发光集成束之后，荧光分析装置利用滤光器照射选择的波长到样品容器中。然后，收集从样品容器发射的荧光并且利用光学透镜调节以形成束，然后利用滤光器选择光的波长以便于利用光检测器检测。然而，仅能以此方法捕获沿所有方向发射的荧光中的一部分，因而光收集不能说有效。测量化学发光或者生物发光的分析装置中出现类似问题。

作为响应，例如，日本专利申请特开平10-019779与2000-241708号公报描述了用于检测从样品容器沿许多方向散射的诸如荧光之类的光的技术。日本专利申请特开平10-019779号公报描述了荧光分析装置，此荧光分析装置包括利用反射收集从样品容器散射的荧光的集光反射镜。日本专利申请特开2000-241708号公报描述了光发射分析装置，此光发射分析装置包括用于利用位于样品容器的外周的光反射面检测从光收集元件发射的光的检测器。这些装置能够捕获沿许多方向发射的光。

然而，在有关技术中，在以下几点存在改进空间。

在日本专利申请特开平10-019779号公报的荧光分析装置中，在考虑到由集光反射镜反射的荧光衰减以及利用透镜系统的集光效率的情况下实际集光效率不是特别高。而且，尺寸由于光学系统的结构复杂性而增大。在日本专利申请特开2000-241708号公报中，也存在大量衰减，这由于重复反射而产生。集光效率因此不是特别高。

发明内容

鉴于上述情况，本文中公开的技术提供通过提高集光效率而能够精确分析样品中的特定成分的分析工具以及分析装置。

由本文中公开的技术的第一方面提供的分析工具是用于安装至自动分析样品中所含的特定成分的分析装置的分析工具。所述分析工具包括：光测量井，所述光测量井保持作为测量对象的测量溶液并且测量所述测量溶液。所述光测量井包括：开口，所述开口分配所述测量溶液；测量溶液保持部，所述测量溶液保持部保持穿过所述开口分配的所述测量溶液；以及发射部，所述发射部使测量光沿所述分析装置的光接收方向发射，所述测量光被致使从保持在所述测量溶液保持部中的所述测量溶液发射。所述测量光是荧光或者化学发光。所述测量溶液保持部具有沿所述光接收方向扁平的扁平轮廓。

优选地，所述光测量井形成为总体扁平形状，该形状匹配所述测量溶液保持部的形状；并且所述光测量井包括扁平面，并且所述发射部设置在所述扁平面处。

优选地，所述测量溶液在所述扁平轮廓的剖面的横向方向上的高度定义为所述光测量井的槽长度(cell length)；并且所述槽长度是3mm或者更小。

优选地，所述分析工具还包括反应管，所述反应管产生所述测量溶液。

优选地，在所述测量光是荧光的情况下，将用于致使发射所述测量光的激发光从所述光测量井的除所述发射部以外的部分照射到所述测量溶液上。

优选地，所述激发光的照射方向与所述测量光的所述光接收方向对准。

由本文中公开的技术的第二方面提供的分析装置是采用本文中公开的技术的第一方面的分析工具的一种分析装置，所述分析装置包括检测所述测量光的检测器。

优选地，所述分析装置还包括测量光波长选择滤光器，所述测量光波长选择滤光器限制所述测量光的波长。

优选地，所述测量光波长选择滤光器具有预定波长吸收特性。

优选地，所述测量光波长选择滤光器是有色玻璃滤光器。

优选地，所述分析装置还包括集光构件以收集所述测量光。

优选地，所述集光构件是导光件。

优选地，在所述测量光是荧光的情况下，所述分析装置还包括：光源，所述光源照射激发光以使所述测量溶液发射荧光；以及激发光波长选择滤光器，所述激发光波长选择滤光器限制所述激发光的波长。

优选地，所述激发光波长选择滤光器具有预定波长吸收特性。

优选地，所述激发光波长选择滤光器是有色玻璃滤光器。