[发明专利]III族氮化物结晶的制造方法、以及含RAMO4基板在审
申请号: | 201710068240.9 | 申请日: | 2017-02-07 |
公开(公告)号: | CN107190324A | 公开(公告)日: | 2017-09-22 |
发明(设计)人: | 冈山芳央;信冈政树 | 申请(专利权)人: | 松下知识产权经营株式会社 |
主分类号: | C30B29/40 | 分类号: | C30B29/40;C30B19/02;C30B19/12;C30B29/22 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司11021 | 代理人: | 葛凡 |
地址: | 日本国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | iii 氮化物 结晶 制造 方法 以及 ramo4 基板 | ||
技术领域
本发明涉及III族氮化物结晶的制造方法、以及含RAMO4基板。
背景技术
近年来,GaN等III族氮化物的结晶作为发光二极管等的材料受到关注。作为这样的III族氮化物的结晶的制造方法之一,已知在Na等助熔剂中,使III族元素与氮反应,在基板上进行结晶生长的助熔剂法。作为此时的基板,通常为蓝宝石基板等(例如参照专利文献1和2)。但是,蓝宝石基板相对于GaN的晶格不匹配率为13.8%,若使III族氮化物结晶在该蓝宝石基板上生长,则存在容易产生结晶缺陷等课题。
另一方面,作为用于制作III族氮化物的基板,包含以ScAlMgO4为代表的、通式RAMO4所表示的单晶体(通式中,R表示选自Sc、In、Y和镧系元素中的一个或多个三价元素,A表示选自Fe(III)、Ga和Al中的一个或多个三价元素,M表示选自Mg、Mn、Fe(II)、Co、Cu、Zn和Cd中的一个或多个二价元素)的基板(以下,也仅称“RAMO4基板”)作为晶格不匹配率小的材料被提出(例如参照专利文献3)。
现有技术文献
专利文献
专利文献1:日本特开2007-246341号公报
专利文献2:日本专利第4716711号公报
专利文献3:日本特开2015-178448号公报
发明内容
发明要解决的问题
因此,可以想到将上述专利文献3中记载的RAMO4基板应用于助熔剂法。然而,若将RAMO4基板浸渍于Na等的助熔剂中,则有时在助熔剂中混入构成RAMO4基板的元素。并且,若发生这样的元素的混入,则这些元素容易进入III族氮化物结晶内,容易引起晶格尺寸或能带结构的变化、电学特性(导电率)的变化。
因此,本发明的目的在于提供在RAMO4基板上通过助熔剂法制造高品质的III族氮化物结晶的方法。
用于解决问题的手段
为了达成上述目的,本发明提供一种III族氮化物结晶的制造方法,其包括:在包含通式RAMO4所表示的单晶体(通式中,R表示选自Sc、In、Y和镧系元素中的一个或多个三价元素,A表示选自Fe(III)、Ga和Al中的一个或多个三价元素,M表示选自Mg、Mn、Fe(II)、Co、Cu、Zn和Cd中的一个或多个二价元素)的RAMO4基板的外延生长面以外的区域,形成保护层的保护层形成工序;在所述RAMO4基板的外延生长面上,通过助熔剂法形成III族氮化物结晶的结晶形成工序。
发明效果
根据本发明,在利用助熔剂法制造III族氮化物单晶时,构成RAMO4基板的元素不会混入助熔剂中,能够制造高品质的III族氮化物结晶。
附图说明
图1的图1A和图1B为本发明的实施方式中使用的结晶制作装置的示意性截面图。
图2为本发明的实施方式中使用的含RAMO4基板的一例的示意性截面图。
图3为本发明的实施方式中使用的含RAMO4基板的另一例的示意性截面图。
具体实施方式
图1A和图1B中,示出用于进行本发明的助熔剂法的反应装置(结晶制作装置)100的一例的示意性截面图。如图1B所示,本发明的III族氮化物的制造方法中,在使含RAMO4基板11浸渍于包含III族元素和助熔剂的混合液12中的状态下,向反应室103内导入氮气。并且,在混合液12中使III族元素和氮反应,从而在含RAMO4基板11表面使III族氮化物的结晶生长,得到所期望的III族氮化物结晶。
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