[发明专利]半导体装置及其制造方法有效
申请号: | 201710073374.X | 申请日: | 2017-02-10 |
公开(公告)号: | CN107170745B | 公开(公告)日: | 2020-09-29 |
发明(设计)人: | 藤木润;荒井伸也 | 申请(专利权)人: | 东芝存储器株式会社 |
主分类号: | H01L27/11551 | 分类号: | H01L27/11551;H01L27/11578 |
代理公司: | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人: | 张世俊 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体 装置 及其 制造 方法 | ||
1.一种半导体装置,其特征在于具备:
第1导电型的第1半导体区域;
积层体,设置在所述第1半导体区域上,且所述积层体包含交替地积层的多个绝缘体与多个电极层;
多个柱状部,设置在所述积层体内,所述柱状部沿所述积层体的积层方向延伸,所述柱状部包含半导体主体与电荷蓄积膜,所述半导体主体与所述第1半导体区域相接,且电荷蓄积膜包含电荷蓄积部;
壁状的多个第1绝缘部,设置在所述积层体内,所述第1绝缘部沿所述积层方向及与所述积层方向垂直的第1方向延伸,且所述第1绝缘部与所述第1半导体区域相接;以及
柱状的多个第2绝缘部,设置在所述积层体内,所述第2绝缘部沿所述积层方向延伸,所述第2绝缘部与所述第1半导体区域相接,所述第2绝缘部的沿着与所述第1方向在平面内垂直的第2方向的宽度比所述第1绝缘部的沿着所述第2方向的宽度宽,且所述第2绝缘部俯视观察时配置成错位格子状。
2.根据权利要求1所述的半导体装置,其特征在于:还具备设置在所述第2绝缘部内的第1导电体。
3.根据权利要求2所述的半导体装置,其特征在于:所述第1导电体与所述第1半导体区域相接。
4.根据权利要求2所述的半导体装置,其特征在于:还具备设置在所述第1半导体区域内的第2导电型的第2半导体区域,且
所述第1导电体与所述第2半导体区域相接。
5.根据权利要求2所述的半导体装置,其特征在于:还具备周边电路,该周边电路将所述第1半导体区域夹在中间而设置在所述积层体的下方,且所述周边电路包含晶体管,且
所述第1导电体与所述晶体管电连接。
6.根据权利要求1所述的半导体装置,其特征在于:所述第2绝缘部与所述第1绝缘部的1个重叠。
7.根据权利要求1所述的半导体装置,其特征在于:所述第2绝缘部不与所述第1绝缘部重叠。
8.根据权利要求1所述的半导体装置,其特征在于:所述第2绝缘部的至少1个与所述第1绝缘部的1个重叠,且所述第2绝缘部的其余部分不与所述第1绝缘部重叠。
9.根据权利要求8所述的半导体装置,其特征在于还具备:
第2导电体,设置在所述第2绝缘部内;
第2导电型的第3半导体区域,设置在所述第1半导体区域内;以及
第1导电型的第4半导体区域,设置在所述第1半导体区域内;
设置在所述第2绝缘部的至少1个的所述第2导电体与所述第3半导体区域相接,且
设置在所述第2绝缘部的其余部分的所述第2导电体与所述第4半导体区域相接。
10.根据权利要求1所述的半导体装置,其特征在于:所述第2绝缘部的平面形状为圆形、圆角长方形及椭圆形的任一个。
11.根据权利要求1所述的半导体装置,其特征在于:所述第2绝缘部代替所述柱状部设置在供设置所述柱状部的区域。
12.根据权利要求11所述的半导体装置,其特征在于:所述柱状部从所述第2绝缘部的周围被省略。
13.根据权利要求1所述的半导体装置,其特征在于:所述第2绝缘部覆盖设置在所述第1绝缘部,且
所述柱状部从所述第2绝缘部的周围被省略。
14.根据权利要求2所述的半导体装置,其特征在于:在所述积层体的上方还具备将所述第1导电体彼此连接的电气配线。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的