[发明专利]一种CMOS传感器测试系统在审
| 申请号： | 201710075463.8 | 申请日： | 2017-02-13 |
| 公开（公告）号： | CN106899844A | 公开（公告）日： | 2017-06-27 |
| 发明（设计）人： | 不公告发明人 | 申请（专利权）人： | 张家港市欧微自动化研发有限公司 |
| 主分类号： | H04N17/00 | 分类号： | H04N17/00;G01R31/02 |
| 代理公司： | 苏州润桐嘉业知识产权代理有限公司32261 | 代理人： | 胡思棉 |
| 地址： | 215600 江苏省苏州市*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 cmos 传感器 测试 系统 | ||
1.一种CMOS传感器测试系统，其特征在于：所述测试系统包括：
用于采集数据的数据采集装置及用于统计分析测试结果的上位机；
所述数据采集装置包括待测的CMOS传感器，图像处理器，与所述图像处理器连接的开关选择电路模块及开短路测试模块，与所述开短路测试模块连接的图形测试模块，漏电测试模块及系统电源模块；
所述图像处理器用于控制所述开关选择电路模块,开短路测试模块，图形测试模块，漏电测试模块及系统电源模块；
所述开关选择电路模块用于控制所述CMOS传感器；
所述开短路测试模块用于测试CMOS传感器的Pin脚与电源Pin之间开短路情况，Pin脚与地Pin的开短路情况以及电源Pin与地Pin之间的开短路情况；
所述图像测试模块用于测试CMOS传感器在不同光照条件下的图像性能；
所述漏电测试模块用于测试CMOS传感器的漏电情况；
所述系统电源模块用于所述CMOS传感器，图像处理器，开关选择电路模块，开短路测试模块，图形测试模块及漏电测试模块的供电。
2.根据权利要求1所述的CMOS传感器测试系统，其特征在于：所述开短路测试模块包括与所述图像处理器连接的恒流源及ADC模块，所述恒流源及ADC模块还与所述开关选择电路模块连接；
所述恒流源用于输出正恒定电流及负恒定电流；
所述ADC模块用于测量所述CMOS传感器上的电压大小。
3.根据权利要求1所述的CMOS传感器测试系统，其特征在于：所述图像测试模块包括与图像处理器连接的光源模块及MIPI桥接模块；
所述光源模块用于提供不同的光照强度；
所述MIPI桥接模块用于提供MIPI信号。
4.根据权利要求3所述的CMOS传感器测试系统，其特征在于：所述光源模块提供的不同光照强度为三种。
5.根据权利要求1所述的CMOS传感器测试系统，其特征在于：所述漏电测试模块包括与所述图像处理器连接的电流测试模块；
所述电流测试模块用于对所述CMOS传感器上漏电情况进行测试。
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