[发明专利]一种CMOS传感器测试系统

说明书

技术领域

本发明涉及集成电路测试领域，特别涉及到一种CMOS传感器测试系统及测试方法。

背景技术

由于CMOS传感器是图像采集传感器，在出厂前每颗芯片要进行一道最后检验，必须把所有相关不良品筛选出来，并对不良品进行归类统计，通过不良型可以定位哪些芯片是属于晶圆厂的问题，哪些属于封装厂的问题，进一步定位到自己电路上设计是否有缺陷。

现有的CMOS传感器测试系统及方法通过采用FPGA控制的图像测试系统，存在测试类别单一，不能自动全面的测试CMOS传感器的0/S不良，不能够在多种光照下测试图像性能，不能进行CMOS传感器漏电测试，以及不能进行不良分类的技术问题。因此，提供过一种既能够进行图像性能测试又能够进行CMOS传感器引脚开短路测试及漏电测试的测试系统就很有必要。

发明内容

本发明主要解决的技术问题是现有技术中不能够能自动全面的测试CMOS传感器的不良，不能对不良进行分类。本发明通过提供一种既能够进行图像性能测试又能够进行CMOS传感器引脚开短路测试及漏电测试的测试系统。

为解决上述技术问题，本发明采用的技术方案如下：

一种CMOS传感器测试系统，所述测试系统包括：用于采集数据的数据采集装置及用于统计分析测试结果的上位机；

所述数据采集装置包括待测的CMOS传感器，图像处理器，与所述图像处理器连接的开关选择电路模块及开短路测试模块，与所述开短路测试模块连接的图形测试模块，漏电测试模块及系统电源模块；

所述图像处理器用于控制所述开关选择电路模块,开短路测试模块，图形测试模块，漏电测试模块及系统电源模块；

所述开关选择电路模块用于控制所述CMOS传感器；

所述开短路测试模块用于测试CMOS传感器的Pin脚与电源Pin之间开短路情况，Pin脚与地Pin的开短路情况以及电源Pin与地Pin之间的开短路情况；

所述图像测试模块用于测试CMOS传感器在不同光照条件下的图像性能；

所述漏电测试模块用于测试CMOS传感器的漏电情况；

所述系统电源模块用于所述CMOS传感器，图像处理器，开关选择电路模块，开短路测试模块，图形测试模块及漏电测试模块的供电。

上述方案中，为优化，进一步地，所述开短路测试模块包括与所述图像处理器连接的恒流源及ADC模块，所述恒流源及ADC模块还与所述开关选择电路模块连接；

所述恒流源用于输出正恒定电流及负恒定电流；

所述ADC模块用于测量所述CMOS传感器上的电压大小。

进一步地，所述图像测试模块包括与图像处理器连接的光源模块及MIPI桥接模块；

所述光源模块用于提供不同的光照强度；

所述MIPI桥接模块用于提供MIPI信号。

进一步地，所述光源模块提供的不同光照强度为三种。

进一步地，所述漏电测试模块包括与所述图像处理器连接的电流测试模块；

所述电流测试模块用于对所述CMOS传感器上漏电情况进行测试。

本发明还提供一种CMOS传感器测试系统的测试方法，所述方法包括以下步骤：

(1)连接测试系统；

(2)通过所述上位机发送指令，进行CMOS传感器开短路测试，进行开短路不良分类；

(3)通过所述上位机发送指令，进行CMOS传感器的图像测试，进行图像不良分类；

(4)预设电流阈值，通过所述上位机发送指令，进行CMOS传感器的漏电测试，通过处理器让CMOS传感器处于PWDN状态，测试CMOS传感器电源Pin上电流Ip，Ip大于所述电流阈值时，判断为漏电不良；

(5)所述测试系统自动统计CMOS传感器测试总数量及各不良数量；

(7)所述测试系统自动输出测试结果及统计结果，自动统计输出故障次数，输出格式为Excel报表格式。

上述方案中，为优化，进一步地，所述步骤(2)包括：

(a)上位机发送开短路测试指令，图像传感器根据开短路测试指令所述控制开关选择电路模块，断开CMOS传感器与MIPI桥接模块，设置CMOS传感器电源Pin设置为0V；

(b)恒流源输出+100uA的电流给CMOS传感器待测Pin，通过ADC模块测试该Pin上的待测Pin电压，待测Pin电压V1为0V时判定该待测Pin与CMOS传感器电源Pin短路，待测Pin电压V1大于5V判定该待测Pin与CMOS传感器电源Pin开路；