[发明专利]转塔式测试设备及其转塔式测试方法

权利要求书

1.一种转塔式测试设备，其特征在于，适于对一电子元件进行测试，该电子元件包括一元件本体以及多个引脚，包括：

一吸嘴，适于吸附该元件本体以移动该电子元件；

一作业基台；

一测试座，设于该作业基台，该吸嘴将该电子元件移动至该测试座以进行测试程序，包括:

一耦接单元，包括一耦接部、一压接脚部以及一弹性结构，该弹性结构连接该压接脚部；以及

一主动部，连接该弹性结构；以及

一抵接单元，在一取放状态下，该抵接单元对该主动部施加一反作用力，该主动部受到该反作用力，该主动部推挤该弹性结构，使该压接脚部维持于一第一方位而容许取放该电子元件，在一测试状态下，该抵接单元与该测试座分离，该主动部所受到的该反作用力被释放，该主动部释放该弹性结构，使该压接脚部移至一第二方位以压接该多个引脚与该耦接部，藉此该电子元件通过该耦接部进行测试。

2.如权利要求1所述的转塔式测试设备，其特征在于，该抵接单元与该作业基台之间的相对位置固定，该测试座于一第一位置以及一第二位置之间移动，当该测试座处于该第一位置时，该抵接单元对该主动部施加该反作用力，当该测试座处于该第二位置时，该抵接单元与该测试座分离。

3.如权利要求2所述的转塔式测试设备，其特征在于，其更包括一弹性位移单元，该弹性位移单元设于该作业基台与该测试座之间，该弹性位移单元适于将该测试座从该第二位置推回该第一位置。

4.如权利要求3所述的转塔式测试设备，其特征在于，该抵接单元为一罩体，该测试座设于该抵接单元之中，该抵接单元固定连接于该作业基台。

5.如权利要求4所述的转塔式测试设备，其特征在于，该抵接单元具有一取放开口，该吸嘴以及该电子元件通过该取放开口进出该抵接单元。

6.如权利要求3所述的转塔式测试设备，其特征在于，该测试座包括一元件置放部，当该吸嘴及该电子元件推压该元件置放部时，该测试座从该第一位置被推至该第二位置，此时该抵接单元与该测试座分离，该主动部所受到的该反作用力被释放，该主动部释放该弹性结构，使该压接脚部被旋转至该第二方位以压接该多个引脚与该耦接部。

7.如权利要求6所述的转塔式测试设备，其特征在于，当该吸嘴及该电子元件欲离开该测试座而上提时，该测试座被该弹性位移单元从该第二位置推至该第一位置，此时该抵接单元对该主动部施加该反作用力，该主动部推挤该弹性结构，使该压接脚部回复至该第一方位而与该多个引脚分离。

8.如权利要求6所述的转塔式测试设备，其特征在于，该耦接部的上表面与该元件置放部的上表面之间存在一常态间距，该常态间距等于该电子元件的该多个引脚的架高值。

9.一种转塔式测试方法，其特征在于，包括：

提供如权利要求1所述的转塔式测试设备，其中，该转塔式测试设备更包括一元件输入单元以及一元件输出单元；

以该吸嘴从该元件输入单元吸附提起该电子元件；

以该吸嘴将该电子元件置入该测试座以进行测试；

在该吸嘴将该电子元件从该测试座提出后，将该电子元件移送置放于该元件输出单元，

其中，在该取放状态以及该测试状态之中，该吸嘴持续吸附该电子元件。

10.如权利要求9所述的转塔式测试方法，其特征在于，从该元件输入单元吸附提起该电子元件的步骤至将该电子元件置放于该元件输出单元的步骤之间，该吸嘴持续吸附该电子元件。