[发明专利]转塔式测试设备及其转塔式测试方法

说明书

本发明提供了一种转塔式测试设备及其转塔式测试方法，其中转塔式测试设备，适于对一电子元件进行测试，该电子元件包括一元件本体以及多个引脚。该转塔式测试设备包括一吸嘴、一作业基台、一测试座以及一抵接单元。吸嘴适于吸附该元件本体以移动该电子元件。测试座设于该作业基台，该吸嘴将该电子元件移动至该测试座以进行测试程序，包括一耦接单元以及一主动部。耦接单元包括一耦接部、一压接脚部以及一弹性结构，该弹性结构连接该压接脚部。主动部连接该弹性结构。在一取放状态下，该抵接单元对该主动部施加一反作用力，在一测试状态下，该主动部所受到的该反作用力被释放。

技术领域

本发明有关于一种转塔式测试设备，特别有关于一种可保持电子元件良品率的转塔式测试设备。

背景技术

转塔式测试设备一般用于非引脚式芯片的测试，当引脚式芯片以转塔式测试设备进行测试时，吸嘴的下压力会经由引脚传递至测试座，由于引脚的刚性有限，因此容易因受力而变形，使得引脚的架高值(standoff)降低，造成测试后的芯片的良品率下降。然而，由于转塔式测试设备具有高效率，省空间等优势，因此如何应用转塔式测试设备检测引脚式芯片，成为一重要课题。

发明内容

本发明为了解决已知技术的问题而提供的一种转塔式测试设备，适于对一电子元件进行测试，该电子元件包括一元件本体以及多个引脚。该转塔式测试设备包括一吸嘴、一作业基台、一测试座以及一抵接单元。吸嘴适于吸附该元件本体以移动该电子元件。测试座设于该作业基台，该吸嘴将该电子元件移动至该测试座以进行测试程序，包括一耦接单元以及一主动部。耦接单元包括一耦接部、一压接脚部以及一弹性结构，该弹性结构连接该压接脚部。主动部连接该弹性结构。在一取放状态下，该抵接单元对该主动部施加一反作用力，在一测试状态下，该抵接单元与该测试座分离，藉此该主动部所受到的该反作用力被释放，其中，在一取放状态下，该主动部受到该反作用力，该主动部推挤该弹性结构，使该压接脚部维持于一第一方位而容许取放该电子元件，在一测试状态下，该主动部所受到的该反作用力被释放，该主动部释放该弹性结构，使该压接脚部移至一第二方位以压接该多个引脚与该耦接部，藉此该电子元件通过该耦接部进行测试。

本发明亦提供一种转塔式测试方法，包括下述步骤。首先，提供前述的转塔式测试设备，其中，该转塔式测试设备更包括一元件输入单元以及一元件输出单元。接着，以该吸嘴从该元件输入单元吸附提起该电子元件。再，将该吸嘴将该电子元件置入该测试座以进行测试。接着，在该吸嘴将该电子元件从该测试座提出后，将该电子元件移送置放于该元件输出单元。其中，在该取放状态以及该测试状态之中，该吸嘴持续吸附该电子元件。

应用本发明实施例的转塔式测试设备，电子元件包括元件本体及多个引脚，而吸嘴仅吸附该元件本体，该吸嘴通过该电子元件的元件本体推顶该元件置放部时，推力不会完全经过引脚，而主要是直接经由电子元件的元件本体的底部传递至该元件置放部。因此，引脚不会因受力而变形，可以维持良好的架高值(standoff)，即，提高检测后的电子元件良品率。此外，在检测过程中，由于该吸嘴持续吸附该电子元件，因此可节省取放时间，提高测试效率。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明实施例的转塔式测试设备。

图2为测试座的细部结构。

图3A为测试座的局部剖面图。

图3B为引脚由压接脚部压触定位的情形。

图4A～图4C为本发明实施例的转塔式测试设备的测试过程。

图5为本发明实施例的转塔式测试方法。

附图标号：