[发明专利]电子装备的可测试性分析方法及装置有效
申请号: | 201710077765.9 | 申请日: | 2017-02-14 |
公开(公告)号: | CN108427778B | 公开(公告)日: | 2021-07-13 |
发明(设计)人: | 徐志华;何代钦;朱勤;董国卿;张志昌 | 申请(专利权)人: | 北京国基科技股份有限公司 |
主分类号: | G06F30/20 | 分类号: | G06F30/20;G06F111/10 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 王天尧;汤在彦 |
地址: | 100085 北京市海淀区上地信息路1号(*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电子 装备 测试 分析 方法 装置 | ||
1.一种电子装备的可测试性分析方法,其特征在于,包括:
确定待构建电子装备所要实现的多个功能;
确定多个功能之间的信息流关系;
确定实现所述多个功能所需的多个硬件部件,建立硬件部件集;
根据多个功能之间的信息流关系确定多个硬件部件之间的信号流关系;
根据多个硬件部件之间的信号流关系,构建硬件部件集的多信号流图模型;
根据所述硬件部件集的多信号流图模型确定所述硬件部件集的可测试性指标;
分析所述硬件部件集的测试性指标是否符合电子装备构建条件;
根据多个功能之间的信息流关系确定多个硬件部件之间的信号流关系,包括:
根据所述多个功能和所述多个硬件部件,建立功能与硬件部件的映射关系;
根据所述功能与硬件部件的映射关系,将所述多个功能之间的信息流关系自动映射至多个硬件部件,辅助确定多个硬件部件之间的信号流关系。
2.如权利要求1所述的电子装备的可测试性分析方法,其特征在于,分析所述硬件部件集的测试性指标是否符合电子装备构建条件,包括:将硬件部件集的测试性指标值与预设测试性指标值进行比较,当硬件部件集的测试性指标值大于等于预设测试性指标值时,确定所述多个硬件部件满足构建电子装备的需要。
3.如权利要求2所述的电子装备的可测试性分析方法,其特征在于,分析所述硬件部件集的测试性指标是否符合电子装备构建条件,还包括:
当硬件部件集的测试性指标值小于预设测试性指标值时,重新选择实现所述多个功能所需的多个硬件部件或重新确定多个硬件部件之间的信号流关系。
4.如权利要求1所述的电子装备的可测试性分析方法,其特征在于,所述硬件部件集的可测试性指标与预设可测试性指标包括:故障隔离率、故障检测率、虚警率和功能检测覆盖率。
5.一种电子装备的可测试性分析装置,其特征在于,包括:
功能确定模块,用于确定待构建电子装备所要实现的多个功能;
第一信号流关系确定模块,用于确定多个功能之间的信息流关系;
硬件部件确定模块,用于确定实现所述多个功能所需的多个硬件部件,建立硬件部件集;
第二信号流关系确定模块,用于确定多个硬件部件之间的信号流关系;
多信号流图模型构建模块,用于根据多个硬件部件之间的信号流关系,构建硬件部件集的多信号流图模型;
可测试性指标确定模块,用于根据所述硬件部件集的多信号流图模型确定所述硬件部件集的可测试性指标;
分析模块,用于分析所述硬件部件集的测试性指标是否符合电子装备构建条件;
所述第二信号流关系确定模块具体用于:
根据所述多个功能和所述多个硬件部件,建立功能与硬件部件的映射关系;
根据所述功能与硬件部件的映射关系,将所述多个功能之间的信息流关系自动映射至多个硬件部件,辅助确定多个硬件部件之间的信号流关系。
6.如权利要求5所述的电子装备的可测试性分析装置,其特征在于,所述分析模块具体用于:
将硬件部件集的测试性指标值与预设测试性指标值进行比较,当硬件部件集的测试性指标值大于等于预设测试性指标值时,确定所述多个硬件部件满足构建电子装备的需要。
7.如权利要求6所述的电子装备的可测试性分析装置,其特征在于,所述分析模块具体用于:
当硬件部件集的测试性指标值小于预设测试性指标值时,重新选择实现所述多个功能所需的多个硬件部件或重新确定多个硬件部件之间的信号流关系。
8.如权利要求5所述的电子装备的可测试性分析装置,其特征在于,所述硬件部件集的可测试性指标与预设可测试性指标包括:故障隔离率、故障检测率、虚警率和功能检测覆盖率。
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