[发明专利]电子装备的可测试性分析方法及装置

说明书

本发明提供一种电子装备的可测试性分析方法及装置，包括：确定待构建电子装备所要实现的多个功能；确定多个功能之间的信息流关系；确定实现所述多个功能所需的多个硬件部件，建立硬件部件集；根据多个功能之间的信息流关系确定多个硬件部件之间的信号流关系；根据多个硬件部件之间的信号流关系，构建硬件部件集的多信号流图模型；根据所述硬件部件集的多信号流图模型确定所述硬件部件集的测试性指标；分析所述硬件部件集的测试性指标是否符合电子装备构建条件。本发明方法通过对功能层面的信息流分析，大大降低硬件层面测试性多信号流模型的建立。在功能层面即可了解测试性状态，辅助系统人员对测试性的考虑，降低测试性工作的难度，便于推广。

技术领域

本发明涉及电子装备设计技术领域，特别涉及一种电子装备的可测试性分析方法及装置。

背景技术

可测性(Testability，也译为可测试性)是产品能及时准确地确定其状态(可工作、不可工作、性能下降)，隔离其内部故障的设计特性。现有技术中一般是对已设计好的产品进行可测试性分析，从而减少使用和维修费用，比如，据美海军调查，对 F/A-18、F-14、A-16E和S-3A四种海军主要飞机的239项关键部件进行的可测试性技术改进，使它们的使用和维修费用减少了30％。上面讲述的是在设计好一个飞机后对飞机的关键部件进行可测试性分析，减少使用和维修的费用，如果可以在飞机的研制初期就进行可测试性设计并分析，这样可以降低飞机全寿命周期(从生产到报废) 费用的10～20％，更大的减少了飞机后期使用和维修的费用。基于此，提出了在电子装备功能设计的同时增加可测试性设计要求。但是，我国虽在1995年就颁布了《装备测试性大纲》，但由于缺乏有效的电子装备可测性设计与评估的计算机辅助工具，我国电子装备可测试性设计现状远远滞后于新一代电子装备可测性设计需求。现有技术方案中，主要从系统角度分析出各个产品模块，通过产品库中积累的知识了解各产品模块的特性，以及输入、输出信号，确定各模块间的信号流关系，最后分层级建立本系统的多信号流模型，计算出测试性指标。基于产品之间的多信号流进行测试性建模分析，使得测试性工作难度较大，难于推广。

发明内容

本发明实施例提供了一种电子装备的可测试性分析方法，通过对功能层面的信息流分析，可以大大降低硬件层面测试性多信号流模型的建立。同时在功能层面即可了解测试性状态，辅助系统人员对测试性的考虑，降低测试性工作的难度，便于推广。该电子装备的可测试性分析方法包括：

确定待构建电子装备所要实现的多个功能；

确定多个功能之间的信息流关系；

确定实现所述多个功能所需的多个硬件部件，建立硬件部件集；

根据多个功能之间的信息流关系确定多个硬件部件之间的信号流关系；

根据多个硬件部件之间的信号流关系，构建硬件部件集的多信号流图模型；

根据所述硬件部件集的多信号流图模型确定所述硬件部件集的测试性指标；

分析所述硬件部件集的测试性指标是否符合电子装备构建条件。

在一个实施例中，根据多个功能之间的信息流关系确定多个硬件部件之间的信号流关系，包括：

根据所述多个功能和所述多个硬件部件，建立功能与硬件部件的映射关系；

根据所述功能与硬件部件的映射关系，将所述多个功能之间的信息流关系自动映射至多个硬件部件，辅助确定多个硬件部件之间的信号流关系。

在一个实施例中，分析所述硬件部件集的测试性指标是否符合电子装备构建条件，包括：将硬件部件集的测试性指标值与预设测试性指标值进行比较，当硬件部件集的测试性指标值大于等于预设测试性指标值时，确定所述多个硬件部件满足构建电子装备的需要。

在一个实施例中，分析所述硬件部件集的测试性指标是否符合电子装备构建条件，还包括：