[发明专利]压力触控检测方法、触控面板及电子装置有效

专利信息
申请号: 201710086641.7 申请日: 2017-02-17
公开(公告)号: CN108459750B 公开(公告)日: 2020-05-12
发明(设计)人: 黄炜赟;臧鹏程;高山 申请(专利权)人: 京东方科技集团股份有限公司;成都京东方光电科技有限公司
主分类号: G06F3/041 分类号: G06F3/041;G06F3/044
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 彭久云
地址: 100015 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 压力 检测 方法 面板 电子 装置
【权利要求书】:

1.一种压力触控检测方法,包括:

提供触控检测单元阵列,其包括多行多列触控检测单元;

检测所述触控检测单元阵列被触摸时的触摸面积,根据所述触摸面积的大小输出不同的触控压力信号,

其中所述触控检测单元为电容触控检测单元,根据所述电容触控检测单元检测的触控电容数据的三维波形图的至少一个特征参数来表征触摸面积,

其中所述三维波形图的至少一个特征参数包括波形半高宽、波形水平截面面积、波形半高宽和波形水平截面面积、波形峰值、波形宽度和波形积分中的至少一个。

2.根据权利要求1所述的压力触控检测方法,其中所述方法包括:

检测所述触控电容数据的三维波形图中的所述波形半高宽,所述触摸面积的大小由所述波形半高宽表征;或

检测所述触控电容数据的三维波形图中的所述波形水平截面面积,所述触摸面积的大小由所述波形水平截面面积表征;或

检测所述触控电容数据的三维波形图中的所述波形半高宽和所述波形水平截面面积,所述触摸面积的大小由所述波形半高宽和所述波形水平截面面积表征;或

检测所述触控电容数据的三维波形图中的所述波形峰值、所述波形宽度或所述波形积分,所述触摸面积的大小由所述波形峰值、所述波形宽度或所述波形积分表征。

3.根据权利要求2所述的压力触控检测方法,还包括将首次触摸操作的触摸面积作为触摸特征数据,检测当前触摸操作的触摸面积的大小并与所述触摸特征数据进行比较,确定所述当前触摸操作的类型,输出所述触控压力信号。

4.根据权利要求2所述的压力触控检测方法,还包括将用户轻点、轻按、重按操作时的触摸面积存储为触摸特征数据,检测当前触摸操作的触摸面积的大小并与所述触摸特征数据进行比较,确定所述当前触摸操作的类型,输出所述触控压力信号。

5.根据权利要求3或4任一项所述的压力触控检测方法,其中,所述当前触摸操作的类型包括轻点触摸操作、轻按触摸操作、重按触摸操作。

6.一种触控面板,包括:

触控检测单元阵列,其包括多行多列触控检测单元;

触控处理装置,配置为在所述触控检测单元阵列处于被触摸状态时检测其触摸面积,并根据所述触摸面积的大小输出不同的触控压力信号,

其中所述触控检测单元为电容触控检测单元,根据所述电容触控检测单元检测的触控电容数据的三维波形图的至少一个特征参数来表征触摸面积,

其中所述三维波形图的至少一个特征参数包括波形半高宽、波形水平截面面积、波形半高宽和波形水平截面面积、波形峰值、波形宽度和波形积分中的至少一个。

7.根据权利要求6所述的触控面板,其中,所述触控检测单元为自电容触控检测单元或互电容触控检测单元。

8.根据权利要求7所述的触控面板,其中,所述触摸面积的大小利用所述触控电容数据的三维波形图中的所述波形半高宽来表征;或

所述触摸面积的大小利用所述触控电容数据的三维波形图中的所述波形水平截面面积来表征;或

所述触摸面积的大小利用所述触控电容数据的三维波形图中的所述波形半高宽和所述波形水平截面面积来表征;

所述触摸面积的大小利用所述触控电容数据的三维波形图中的所述波形峰值、所述波形宽度或所述波形积分来表征。

9.根据权利要求6-8任一项所述的触控面板,还包括存储装置,其中,所述存储装置配置为存储触摸特征数据。

10.根据权利要求9所述的触控面板,其中,所述触摸特征数据为首次触摸操作时的触摸面积,所述触控处理装置还配置为检测当前触摸操作的触摸面积的大小并与所述触摸特征数据进行比较,确定所述当前触摸操作的类型,输出所述触控压力信号。

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