[发明专利]压力触控检测方法、触控面板及电子装置有效

专利信息
申请号: 201710086641.7 申请日: 2017-02-17
公开(公告)号: CN108459750B 公开(公告)日: 2020-05-12
发明(设计)人: 黄炜赟;臧鹏程;高山 申请(专利权)人: 京东方科技集团股份有限公司;成都京东方光电科技有限公司
主分类号: G06F3/041 分类号: G06F3/041;G06F3/044
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 彭久云
地址: 100015 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 压力 检测 方法 面板 电子 装置
【说明书】:

一种压力触控检测方法、触控面板及电子装置,该压力触控检测方法包括:提供触控检测单元阵列,其包括多行多列触控检测单元;检测所述触控检测单元阵列被触摸时的触摸面积,根据所述触摸面积的大小输出不同的触控压力信号。该压力触控检测方法将压力触控集成在触摸面板之中,利用不同压力触摸操作,其触摸面积发生改变的现象,采用触摸面积的大小来表征触控压力的大小,从而实现压力触控检测,无需额外增加压力传感器,简化压力触控面板的制备工艺,提高产品良率,降低压力触控面板的生产成本,实现电子装置的轻薄化。

技术领域

发明的实施例涉及一种压力触控检测方法、触控面板及电子装置。

背景技术

触摸屏作为一种全新的人机交互设备,由于具有直接、高效、准确、流畅、时尚等特点,已经广泛的应用于智能手机、平板电脑、电视等各种电子装置中。而随着触摸屏技术的发展,压力触控(Force Touch)技术被引入到传统触控技术中,触摸屏在二维平面空间的基础上增加了第三维压力空间,实现3D触控效果,从而丰富人机交互手段,实现更多功能,带来更多样化的操作体验。

压力触控技术主要根据外界按压力度的不同,电子装置能够根据不同的压力大小产生不同的感知信号,从而执行相应的操作指令。根据压力感测原理的不同,电子装置上实现压力触控技术的形式主要可分为三类:压电式、压阻式、电容式。电容式压力触控技术是基于电容的大小随手指压力的大小而变化的原理进行工作,压阻式压力触控技术是基于压敏电阻的阻值大小随手指压力大小而变化的原理进行工作,压电式压力触控技术是基于一些晶体材料的压电效应的原理进行工作。无论压电式、压阻式或电容式压力触控技术,其实现压力检测都需要额外增加包括压力传感器及其驱动芯片、外围电路等部件在内的压力感应组件,其结构复杂,生产成本较高;另一方面,由于需要在触摸屏中集成压力感应组件,会导致触摸屏的厚度增大,不利用电子装置的轻薄化。

发明内容

本发明至少一个实施例提供一种压力触控检测方法、触控面板及电子装置。该压力触控检测方法将压力触控集成在触摸面板之中,利用不同压力触摸操作,其触摸面积发生改变的现象,采用触摸面积的大小来表征触控压力的大小,从而实现压力触控检测,无需额外增加压力传感器,简化压力触控面板的制备工艺、提高产品良率、降低压力触控技术的生产成本,实现电子装置的轻薄化。

本发明的至少一个实施例提供一种压力触控检测方法,其包括:提供触控检测单元阵列,其包括多行多列触控检测单元;检测所述触控检测单元阵列被触摸时的触摸面积,根据所述触摸面积的大小输出不同的触控压力信号。

例如,在本发明一实施例提供的压力触控检测方法中,所述触控检测单元为电容触控检测单元,且所述方法包括:检测触控电容数据的三维波形图中的波形半高宽,所述触摸面积的大小由所述波形半高宽表征;或检测触控电容数据的三维波形图中的波形水平截面面积,所述触摸面积的大小由所述波形水平截面面积表征;或检测触控电容数据的三维波形图中的波形半高宽和波形水平截面面积,所述触摸面积的大小由所述波形半高宽和所述波形水平截面面积表征;或检测触控电容数据的三维波形图中的波形峰值、波形宽度或波形积分,所述触摸面积的大小由所述波形峰值、所述波形宽度或所述波形积分表征。

例如,本发明一实施例提供的压力触控检测方法,还包括将首次触摸操作的触摸面积作为触摸特征数据,检测当前触摸操作的触摸面积的大小并与所述触摸特征数据进行比较,确定所述当前触摸操作的类型,输出所述触控压力信号。

例如,本发明一实施例提供的压力触控检测方法,还包括将用户轻点、轻按、重按操作时的触摸面积存储为触摸特征数据,检测当前触摸操作的触摸面积的大小并与所述触摸特征数据进行比较,确定所述当前触摸操作的类型,输出所述触控压力信号。

例如,在本发明一实施例提供的压力触控检测方法中,所述当前触摸操作的类型为轻点触摸操作、轻按触摸操作或重按触摸操作。

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