[发明专利]一种通过测量液晶玻璃板缺陷深度寻找产生缺陷的工段的方法

权利要求书

1.一种通过测量液晶玻璃板缺陷深度寻找产生缺陷的工段的方法，液晶玻璃板中有缺陷，其中，该方法包括：

a、在液晶玻璃板外表面对缺陷位置进行标记，带有标记的液晶玻璃板的外表面为基准面，液晶玻璃板的另一个外表面为对应面；

b、用显微镜通过基准面观察对应面，调整显微镜使对应面在显微镜的观察视野中清晰，记录此时的焦距为对应面焦距；

c、用显微镜通过基准面观察缺陷，调整显微镜使缺陷在显微镜的观察视野中清晰，记录此时的焦距为缺陷焦距；

d、通过下式计算缺陷距离基准面的深度：

深度＝液晶玻璃板的厚度×对应面焦距÷缺陷焦距；

e、将液晶玻璃板内部划分为A区域、D区域和F区域，A区域为液晶玻璃板两个外表面分别至内部延伸玻璃板厚度12.5％的区域，F区域为液晶玻璃板中央分别向厚度方向的两侧延伸玻璃板厚度12.5％的区域，D区域为A区域和F区域之外的液晶玻璃板内部区域；

f、缺陷在A区域时，表明铂金区的净化工段产生了缺陷；

缺陷在F区域时，表明成型区的固化工段产生了缺陷；

缺陷在D区域，表明池炉区的熔融工段产生了缺陷。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述基准面和所述对应面为液晶玻璃板互相平行的两个外表面。

3.根据权利要求1所述的方法，其中，步骤d中所述液晶玻璃板的厚度通过刻度尺或游标卡尺测得。

4.根据权利要求1所述的方法，其中，步骤b中通过调整显微镜的粗准焦螺旋和/或细准焦螺旋使得对应面在显微镜的观察视野中清晰。

5.根据权利要求4所述的方法，其中，步骤b中通过调整显微镜的细准焦螺旋使得对应面在显微镜的观察视野中清晰。

6.根据权利要求1所述的方法，其中，步骤c中通过调整显微镜的粗准焦螺旋和/或细准焦螺旋使得缺陷在显微镜的观察视野中清晰。

7.根据权利要求6所述的方法，其中，步骤c中通过调整显微镜的细准焦螺旋使得缺陷在显微镜的观察视野中清晰。

8.根据权利要求1所述的方法，其中，步骤d中所述的深度的单位与所述液晶玻璃板的厚度的单位一致。

9.根据权利要求8所述的方法，其中，所述深度和所述液晶玻璃板的厚度的单位为厘米或毫米。

10.根据权利要求1所述的方法，其中，步骤b中的所述对应面焦距和步骤c中的所述缺陷焦距通过显微镜的粗准焦螺旋和/或细准焦螺旋读得。