[发明专利]一种通过测量液晶玻璃板缺陷深度寻找产生缺陷的工段的方法

说明书

本发明涉及一种通过测量液晶玻璃板缺陷深度寻找产生缺陷的工段的方法，液晶玻璃板中有缺陷，该方法包括：通过显微镜观察确定对应面焦距和缺陷焦距，通过下式计算缺陷距离基准面的深度：深度＝液晶玻璃板的厚度×对应面焦距÷缺陷焦距；按照距离液晶玻璃板外表面的深度，将液晶玻璃板内部划分为A区域、D区域和F区域，缺陷在A区域时，表明铂金区的净化工段产生了缺陷；缺陷在F区域时：表明成型区的固化工段产生了缺陷；缺陷在D区域时：表明池炉区的熔融工段产生了缺陷。本发明能够准确测量得到缺陷在玻璃板中的深度位置，通过缺陷深度数据找到产生缺陷的工段，进而消除工段中问题，提升良品率。

技术领域

本发明涉及液晶玻璃技术领域，具体地，涉及一种通过测量液晶玻璃板缺陷深度寻找产生缺陷的工段的方法。

背景技术

配料、池炉、铂金、成型等各工序在正常生产中均会产生各种类型的玻璃缺陷，受液晶玻璃行业高精细的特殊要求，各种微小的缺陷均可能造成产品废弃，严重影响产能并影响产品销售。当缺陷较多时在用户产品中会导致用户良率下降。在之前玻璃生产过程中，当缺陷产生后，由检验人员进行缺陷取样，由池炉操作人员进行缺陷检测，主要对缺陷类型进行简单区别划分,但在液晶玻璃生产过程中，同种缺陷多个工序均可能产生，通过缺陷检测类型判定而制定缺陷对策方案，无法有效的为缺陷对策提供充分的证明，无法进行准确排除；以单一缺陷类型进行对策，在对策过程中可能造成误调整，造成新的变量产生，对生产稳定性造成影响，无法满足液晶玻璃生产工艺稳定性要求。

发明内容

本发明的目的是提供一种通过测量液晶玻璃板缺陷深度寻找产生缺陷的工段的方法，该方法能够准确测量得到缺陷在玻璃板中的深度位置，为缺陷分析提供深度数据，进而寻找到造成缺陷的异常工段，排查异常工段的问题，提升良品率，提升对策效率，提高生产稳定性。

为了实现上述目的，本发明提供一种通过测量液晶玻璃板缺陷深度寻找产生缺陷的工段的方法，液晶玻璃板中有缺陷，其中，该方法包括：a、在液晶玻璃板外表面对缺陷位置进行标记，带有标记的液晶玻璃板的外表面为基准面，液晶玻璃板的另一个外表面为对应面；b、用显微镜通过基准面观察对应面，调整显微镜使对应面在显微镜的观察视野中清晰，记录此时的焦距为对应面焦距；c、用显微镜通过基准面观察缺陷，调整显微镜使缺陷在显微镜的观察视野中清晰，记录此时的焦距为缺陷焦距；d、通过下式计算缺陷距离基准面的深度：深度＝液晶玻璃板的厚度×对应面焦距÷缺陷焦距；e、将液晶玻璃板内部划分为A区域、D区域和F区域，A区域为液晶玻璃板两个外表面分别至内部延伸玻璃板厚度12.5％的区域，F区域为液晶玻璃板中央分别至两侧延伸玻璃板厚度12.5％的区域，D区域为A区域和F区域之外的液晶玻璃板内部区域；f、缺陷在A区域时，表明铂金区的净化工段产生了缺陷；缺陷在F区域时，表明成型区的固化工段产生了缺陷；缺陷在D区域，表明池炉区的熔融工段产生了缺陷。

可选地，所述基准面和所述对应面为液晶玻璃板互相平行的两个外表面。

可选地，步骤d中所述液晶玻璃板的厚度通过刻度尺或游标卡尺测得。

可选地，步骤b中通过调整显微镜的粗准焦螺旋和/或细准焦螺旋使得对应面在显微镜的观察视野中清晰。

可选地，步骤b中通过调整显微镜的细准焦螺旋使得对应面在显微镜的观察视野中清晰。

可选地，步骤c中通过调整显微镜的粗准焦螺旋和/或细准焦螺旋使得缺陷在显微镜的观察视野中清晰。

可选地，步骤c中通过调整显微镜的细准焦螺旋使得缺陷在显微镜的观察视野中清晰。

可选地，步骤d中所述的深度的单位与所述液晶玻璃板的厚度的单位一致。

可选地，所述深度和所述液晶玻璃板的厚度的单位为厘米或毫米。

可选地，步骤b中的所述对应面焦距和步骤c中的所述缺陷焦距通过显微镜的粗准焦螺旋和/或细准焦螺旋读得。