[发明专利]一种基于超大规模芯片调试的调试信息存取方法及装置

权利要求书

1.一种基于超大规模芯片调试的调试信息存取方法，其特征在于，包括：

根据用户的需求量配置信息确定存储资源；

若所述需求量配置信息为低需求量配置信息，则仅通过片上存储资源实现对调试信息的存取；若所述需求量配置信息为高需求量配置信息，则通过片上存储资源和片外存储资源实现对调试信息的存取。

2.根据权利要求1所述的调试信息存取方法，其特征在于，若所述需求量配置信息为高需求量配置信息，则通过片上存储资源和片外存储资源实现对调试信息的存取，包括：

若所述需求量配置信息为高需求量配置信息，则首先通过片上存储资源对调试信息进行存取；

当所述片上存储资源存储的测试信息大于预定阈值时，将所述片上存储资源存储的调试信息写入片外存储资源；当存在对所述片外存储资源的读取需求时，从所述片外存储资源读取对应的调试信息。

3.根据权利要求1所述的调试信息存取方法，其特征在于，所述片上存储资源包括：片上寄存器及ram资源。

4.根据权利要求1-3中任意一项所述的调试信息存取方法，其特征在于，还包括：

根据调度信息的类型，确定所述调度信息的存储格式。

5.根据权利要求4所述的调试信息存取方法，其特征在于，

同一类型的调试信息，在所述片上存储资源与所述片外存储资源具有同一种存储格式。

6.一种基于超大规模芯片调试的调试信息存取装置，其特征在于，包括：

存储资源确定模块，用于根据用户的需求量配置信息确定存储资源；

调试信息存取模块，用于在所述需求量配置信息为低需求量配置信息时，仅通过片上存储资源实现对调试信息的存取；在所述需求量配置信息为高需求量配置信息时，通过片上存储资源和片外存储资源实现对调试信息的存取。

7.根据权利要求6所述的调试信息存取装置，其特征在于，所述调试信息存取模块，包括：

第一存取单元，用于在所述需求量配置信息为高需求量配置信息时，通过片上存储资源对调试信息进行存取；

调试信息写入单元，用于当所述片上存储资源存储的测试信息大于预定阈值时，将所述片上存储资源存储的调试信息写入片外存储资源；

调试信息读取单元，用于当存在对所述片外存储资源的读取需求时，从所述片外存储资源读取对应的调试信息。

8.根据权利要求6所述的调试信息存取装置，其特征在于，所述片上存储资源包括：片上寄存器及ram资源。

9.根据权利要求6-8中任意一项所述的调试信息存取装置，其特征在于，所述调试信息存取模块还用于，根据调度信息的类型，确定所述调度信息的存储格式。

10.根据权利要求9所述的调试信息存取装置，其特征在于，

同一类型的调试信息，在所述片上存储资源与所述片外存储资源具有同一种存储格式。