[发明专利]一种基于超大规模芯片调试的调试信息存取方法及装置

说明书

技术领域

本发明涉及超大规模芯片设计领域，更具体地说，涉及一种基于超大规模芯片调试的调试信息存取方法及装置。

背景技术

随着工艺技术以及应用领域的不断发展，芯片的复杂度不断提高，使得可测性设计对调试信息的需求和芯片测试资源的限制之间的矛盾越来越突出。一方面，芯片和系统的复杂度大幅提高意味着验证和测试阶段需要的可见的调试信息大量增多，另一方面，芯片复杂度提高意味着其本身功能的逻辑资源需求越大，在同一工艺水平和相近的芯片面积的前提下，这也意味着芯片可用于存储调试信息的寄存器资源也越少。

传统上对于芯片调试信息的存取，有两种直接的实现方式。一是使用芯片上的资源，包括寄存器和ram；二是在测试或FPGA验证时，通过外接的调试信息保存方式和资源来实现。这两种方式实现都比较简单而直观，但都有很大的局限性。但是第一种的方式受限于片上资源，在芯片规模和复杂度提高的时候，能用于存取调试信息的资源反而更少；而第二种方式，对外接资源的使用比较复杂和低效，同时需要添加相应的额外的控制逻辑，这样一方面很可能对系统引入错误和调试的工作量，更重要的是有可能对芯片本身的时序和逻辑产生影响。

因此，如何存取调试信息，是本领域技术人员需要解决的问题。

发明内容

本发明的目的在于提供一种基于超大规模芯片调试的调试信息存取方法及装置，以实现对调试信息进行存取。

为实现上述目的，本发明实施例提供了如下技术方案：

一种基于超大规模芯片调试的调试信息存取方法，包括：

根据用户的需求量配置信息确定存储资源；

若所述需求量配置信息为低需求量配置信息，则仅通过片上存储资源实现对调试信息的存取；若所述需求量配置信息为高需求量配置信息，则通过片上存储资源和片外存储资源实现对调试信息的存取。

其中，若所述需求量配置信息为高需求量配置信息，则通过片上存储资源和片外存储资源实现对调试信息的存取，包括：

若所述需求量配置信息为高需求量配置信息，则首先通过片上存储资源对调试信息进行存取；

当所述片上存储资源存储的测试信息大于预定阈值时，将所述片上存储资源存储的调试信息写入片外存储资源；当存在对所述片外存储资源的读取需求时，从所述片外存储资源读取对应的调试信息。

其中，所述片上存储资源包括：片上寄存器及ram资源。

其中，还包括：

根据调度信息的类型，确定所述调度信息的存储格式。

其中，同一类型的调试信息，在所述片上存储资源与所述片外存储资源具有同一种存储格式。

一种基于超大规模芯片调试的调试信息存取装置，包括：

存储资源确定模块，用于根据用户的需求量配置信息确定存储资源；

调试信息存取模块，用于在所述需求量配置信息为低需求量配置信息时，仅通过片上存储资源实现对调试信息的存取；在所述需求量配置信息为高需求量配置信息时，通过片上存储资源和片外存储资源实现对调试信息的存取。

其中，所述调试信息存取模块，包括：

第一存取单元，用于在所述需求量配置信息为高需求量配置信息时，通过片上存储资源对调试信息进行存取；

调试信息写入单元，用于当所述片上存储资源存储的测试信息大于预定阈值时，将所述片上存储资源存储的调试信息写入片外存储资源；

调试信息读取单元，用于当存在对所述片外存储资源的读取需求时，从所述片外存储资源读取对应的调试信息。

其中，所述片上存储资源包括：片上寄存器及ram资源。

其中，所述调试信息存取模块还用于，根据调度信息的类型，确定所述调度信息的存储格式。

其中，同一类型的调试信息，在所述片上存储资源与所述片外存储资源具有同一种存储格式。

通过以上方案可知，本发明实施例提供的一种基于超大规模芯片调试的调试信息存取方法，包括：根据用户的需求量配置信息确定存储资源；若所述需求量配置信息为低需求量配置信息，则仅通过片上存储资源实现对调试信息的存取；若所述需求量配置信息为高需求量配置信息，则通过片上存储资源和片外存储资源实现对调试信息的存取。