[发明专利]一种稻瘟病抗性基因Piz‑t功能特异性分子标记及其检测方法和应用在审

专利信息
申请号: 201710102987.1 申请日: 2017-02-24
公开(公告)号: CN106701749A 公开(公告)日: 2017-05-24
发明(设计)人: 杨立明;纪剑辉;周颖君;罗玉明 申请(专利权)人: 淮阴师范学院
主分类号: C12N15/11 分类号: C12N15/11;C12Q1/68
代理公司: 南京经纬专利商标代理有限公司32200 代理人: 杨海军
地址: 223300 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 稻瘟病 抗性 基因 piz 功能 特异性 分子 标记 及其 检测 方法 应用
【权利要求书】:

1.一种稻瘟病抗性基因Piz-t功能特异性分子标记,其特征在于所述分子标记是通过引物对SEQ ID NO.1和SEQ ID NO.2从水稻基因组DNA中扩增出与稻瘟病抗性基因Piz-t呈特异性带型的分子标记,所述引物对序列为:

SEQ ID NO.1Fl:5’-TTACTAGAATCGCTCCAT-3’;

SEQ ID NO.2Rl:5’-ACTGCGTGCGACTTGA-3’。

2.根据权利要求1所述的分子标记,其特征在于所述与稻瘟病抗性基因Piz-t呈特异性带型的分子标记的序列如SEQ ID NO.3所示。

3.检测权利要求1或2所述稻瘟病抗性基因Piz-t的功能特异性分子标记的方法,其特征在于:通过比对多个水稻稻瘟病抗性基因Piz-t的等位基因序列,包含以下步骤:

(1)从公共数据库中下载得到的Piz-t及其同源的基因组序列,以及测序品种日本晴相对应区域的基因组序列,针对Piz-t位点进行序列比对,筛查Piz-t特异的、能区别于该位点其他稻瘟病等位抗性基因的插入/缺失(insertion-deletion,InDel)位点;

(2)利用步骤(1)获得的InDel信息,根据InDel标记的设计原理,在所述InDel位点处上下游处设计基因特异性引物,引物对碱基序列如SEQ ID NO.1和SEQ ID NO.2所示;

(3)以携带有稻瘟病抗性基因Piz-t的稻瘟病抗性品种IRBLZT-T的总DNA为模板,进行PCR扩增,所获得的PCR产物即为稻瘟病抗性基因Piz-t基因特异性分子标记Piz-t-InDel。

4.权利要求1或2所述的稻瘟病抗性基因Piz-t基因特异性分子标记在鉴别水稻品种稻瘟病抗性基因中的应用。

5.权利要求1或2所述的稻瘟病抗性基因Piz-t基因特异性分子标记在鉴别Pi2/Pi9基因簇区域不同的稻瘟病抗性基因中的应用。

6.一种鉴别水稻品种稻瘟病抗性基因的试剂盒,其特征在于含有核酸序列如SEQ ID NO.3所示的分子标记,以及如SEQ ID NO.1和SEQ ID NO.2所述的引物对。

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