[发明专利]微痕量荧光探测仪有效值补偿方法及系统有效
申请号: | 201710109577.X | 申请日: | 2017-02-27 |
公开(公告)号: | CN107101980B | 公开(公告)日: | 2020-09-25 |
发明(设计)人: | 刘秦豫;吴哲;张天琪;王先松 | 申请(专利权)人: | 深圳砺剑防卫技术有限公司 |
主分类号: | G01N21/64 | 分类号: | G01N21/64 |
代理公司: | 深圳市科进知识产权代理事务所(普通合伙) 44316 | 代理人: | 赵勍毅 |
地址: | 518000 广东省深圳市福*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 痕量 荧光 探测仪 有效值 补偿 方法 系统 | ||
本发明涉及一种微痕量荧光探测仪有效值补偿方法,包括:a.采集获得膜片荧光值的原始数据;b.对上述原始数据进行平滑滤波;c.根据上述平滑滤波后的数据,计算得到检测峰值;d.对上述检测峰值进行修正,以对荧光材料检测有效值进行补偿。本发明还涉及一种微痕量荧光探测仪有效值补偿系统。本发明能够根据膜片使用状态进行动态的数据补偿,稳定仪器的灵敏度和误报率,增加膜片的使用寿命。
技术领域
本发明涉及一种微痕量荧光探测仪有效值补偿方法及系统。
背景技术
微痕量荧光探测仪相比传统的爆炸物检测仪器,有灵敏度高、响应速度快的特点,在地铁、机场等重要安检场所有广泛的应用前景。此类仪器的核心是在玻璃基板上涂覆有机薄膜材料,这种材料对爆炸物分子有荧光淬灭的属性。当有爆炸物分子接触薄膜材料时,会使荧光量变小,仪器通过检测荧光强度的变化来判定是否有爆炸物分子存在。
不可避免的是,同大多数有机荧光材料一样,这类有机薄膜材料由于光漂白、膜片污染等因素,随着使用膜片的荧光强度会慢慢变弱,膜片都有一定的寿命限制。在整个使用的时间范围内,荧光淬灭的变化量也会随着膜片整体荧光强度的变弱而变小,如果以固定的阈值来判断是否检测的爆炸物时,就会出现这样的情况:新膜片可以检测到的一些物质而使用旧膜片检测不到,仪器的检测灵敏度严重依赖膜片的状态。因为新膜片对一定浓度物质产生的荧光变化超过报警阈值,而在使用的后期,随着膜片的消耗,相同量的物质产生的荧光变化量又低于报警阈值,无法报警。
对于大多数的爆炸物检测仪器都会有误报率和灵敏度两个参数,而这两个关键的参数又相互制约,一味提高其中一个参数会导致另外一个参数的降低,对于荧光检测类仪器尤为如此,因为荧光膜片是消耗品,需要根据使用情况定期更换,新更换的膜片比较灵敏和活跃,数据抖动相对较大,容易误报,为了不降低误报率,需要将报警阈值设置的相对较高,这样误报率和灵敏度得到一个有效平衡,但随着使用,膜片变的越来越迟钝,数据抖动也相对较小,但报警阈值不变的情况下,会导致一些灵敏度迅速下降,导致一些本该测到的东西检测不到。
发明内容
有鉴于此,有必要提供一种微痕量荧光探测仪有效值补偿方法及系统。
本发明提供一种微痕量荧光探测仪有效值补偿方法,该方法包括如下步骤:a.采集获得膜片荧光值的原始数据;b.对上述原始数据进行平滑滤波;c.根据上述平滑滤波后的数据,计算得到检测峰值;d.对上述检测峰值进行修正,以对荧光材料检测有效值进行补偿。
其中,所述的步骤a具体包括:利用模数转换器采集获得膜片荧光值的原始数据A(A1,A2,A3,,,,,,,An-1,An,An+1)。
所述的步骤b具体包括:Wn=(An-j,+An-j+1,+An,+An+j-1,+An+j)/(2j-1),得到数据(W1,W2,W3,,,,,,,Wn-1,Wn,Wn+1),其中j为常量。
所述的步骤c具体包括:利用微分方法求取检测峰值Hi=Wi-n-Wi,得到数据(H1,H2,H3,,,,,,,Hn-1,Hn,Hn+1)。
所述的步骤d具体包括:采用公式:Jn=(Q/Wn)b*Hn对上述检测峰值进行修正,其中,Q和b为常量。
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