[发明专利]一种测试电路及芯片

权利要求书

1.一种测试电路，其特征在于，所述测试电路包括待测电路，与所述待测电路连接的解码器、测试切换器和激励单元，以及与所述测试切换器连接的测试单元，所述测试切换器与所述解码器相连，所述待测电路中包括至少一个待测单元；

其中，所述解码器，用于接收第一信号，并对所述第一信号进行解析，得到寻址信号，所述寻址信号用于指示所述至少一个待测单元中的第一待测单元；

所述激励单元，用于接收第二信号，并根据所述第二信号，生成激励信号，向所述寻址信号指示的所述第一待测单元发送所述激励信号，所述激励信号用于测试所述第一待测单元；

所述第一待测单元，用于响应于所述寻址信号，基于所述激励信号产生测试信号；

所述测试切换器，用于根据所述寻址信号，选择所述第一待测单元以输出所述测试信号；

所述测试单元，用于对所述测试信号进行采样，得到测试结果；

所述测试电路集成于待测芯片中。

2.根据权利要求1所述的测试电路，其特征在于，所述测试电路还包括：

与所述测试切换器连接的校正单元，用于采集所述测试信号，并根据所述测试信号，生成反馈信号，所述反馈信号用于调整所述第二信号的大小。

3.根据权利要求1所述的测试电路，其特征在于，所述测试电路还包括：

与所述激励单元和所述解码器均连接的控制器，用于产生所述第一信号，并向所述解码器发送所述第一信号，以及产生所述第二信号，并向所述激励单元发送所述第二信号。

4.根据权利要求2所述的测试电路，其特征在于，所述测试电路还包括：

与所述激励单元、所述解码器和所述校正单元均连接的控制器，用于产生所述第一信号，并向所述解码器发送所述第一信号，产生所述第二信号，并向所述激励单元发送所述第二信号，以及接收所述校正单元发送的所述反馈信号，并根据所述反馈信号，调整所述第二信号的大小。

5.根据权利要求3或4所述的测试电路，其特征在于，所述控制器包括寄存器控制/配置接口，用于控制所述控制器产生所述第一信号和所述第二信号，以及采集所述测试结果。

6.根据权利要求1-4中任意一项所述的测试电路，其特征在于，所述测试电路还包括：

与所述测试切换器和所述测试单元均连接的电流测试支路，用于测量所述测试信号的电流的大小。

7.根据权利要求6所述的测试电路，其特征在于，所述电流测试支路包括第一电阻，其中，所述第一电阻的一端与所述测试单元连接，所述第一电阻的另一端接地。

8.根据权利要求1、2、3、4、7中任意一项所述的测试电路，其特征在于，所述激励单元包括数字模拟转换器DAC，所述DAC用于将所述第二信号转换为所述激励信号，其中，所述第二信号为数字信号，所述激励信号为模拟信号。

9.根据权利要求5所述的测试电路，其特征在于，所述激励单元包括数字模拟转换器DAC，所述DAC用于将所述第二信号转换为所述激励信号，其中，所述第二信号为数字信号，所述激励信号为模拟信号。

10.根据权利要求6所述的测试电路，其特征在于，所述激励单元包括数字模拟转换器DAC，所述DAC用于将所述第二信号转换为所述激励信号，其中，所述第二信号为数字信号，所述激励信号为模拟信号。

11.根据权利要求1、2、3、4、7、9、10中任意一项所述的测试电路，其特征在于，所述测试单元包括模拟数字转换器ADC，所述ADC用于将对所述测试信号从模拟信号形式的所述测试信号进行采样并转换为数字信号形式的所述测试结果。

12.根据权利要求5所述的测试电路，其特征在于，所述测试单元包括模拟数字转换器ADC，所述ADC用于将对所述测试信号从模拟信号形式的所述测试信号进行采样并转换为数字信号形式的所述测试结果。