[发明专利]信息处理方法及测试芯片

权利要求书

1.一种信息处理方法，其特征在于，包括：

确定单一的受测芯片的当前工作频率和当前工作电压；

对使用所述当前工作频率和当前工作电压工作的所述受测芯片，进行压力测试；

当所述受测芯片通过所述压力测试时，增加所述当前工作频率并返回对所述受测芯片的压力测试；

当所述受测芯片未通过所述压力测试时，增加所述当前工作电压；

当增加后的所述当前工作电压不大于所述受测芯片支持的最大工作电压时返回对所述受测芯片的所述压力测试，否则根据所述受测芯片通过的压力测试对应的工作频率，确定所述受测芯片支持的最大工作频率。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，

所述增加所述当前工作频率，还包括：

按照第一预设步长，增大倍频参数；

将增大后的所述倍频参数入到所述受测芯片；其中，所述倍频参数，用于供所述受测芯片在频率基值的基础上进行倍频处理。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，

所述方法还包括：

测试芯片读取表征所述受测芯片在所述压力测试是否正常的第一寄存器；

当所述测试芯片从所述第一寄存器读取的取值为第一取值时，所述测试芯片确定所述受测芯片通过所述压力测试。

4.根据权利要求1、2或3所述的方法，其特征在于，

所述增加所述当前工作频率，包括：

当施加于所述受测芯片的所述压力测试的次数小于预设次数时，以第一幅度增加所述当前工作频率；

当施加于所述受测芯片的所述压力测试的次数不小于预设次数时，以第二幅度增加所述当前工作频率；其中，所述第一幅度大于所述第二幅度。

5.根据权利要求1、2或3所述的方法，其特征在于，

所述方法还包括：

当所述受测芯片的当前工作电压已经达到所述最大工作电压，且未通过本次压力测试时，缩小所述当前工作频率并返回对所述受测芯片的压力测试，其中，缩小后的所述当前工作频率，大于所述受测芯片前一次通过的所述压力测试对应的工作频率并小于所述本次压力测试对应的工作频率。

6.一种测试芯片，其特征在于，包括：

第一确定单元，用于确定单一的受测芯片的当前工作频率和当前工作电压；

测试单元，用于对使用所述当前工作频率和当前工作电压工作的所述受测芯片，进行压力测试；

调整单元，用于当所述受测芯片通过所述压力测试时，增加所述当前工作频率并返回对所述受测芯片的压力测试；当所述受测芯片未通过所述压力测试时，增加所述当前工作电压；

第二确定单元，用于当增加后的所述当前工作电压不大于所述受测芯片支持的最大工作电压时返回对所述受测芯片的所述压力测试，否则根据所述受测芯片通过的压力测试对应的工作频率，确定所述受测芯片支持的最大工作频率。

7.根据权利要求6所述的测试芯片，其特征在于，

所述调整单元，具体用于按照第一预设步长，增大倍频参数；将增大后的所述倍频参数入到所述受测芯片；其中，所述倍频参数，用于供所述受测芯片在频率基值的基础上进行倍频处理。

8.根据权利要求6所述的测试芯片，其特征在于，

所述测试芯片，还包括：

读取单元，具体用于读取表征所述受测芯片在所述压力测试是否正常的第一寄存器；

第三确定单元，用于当所述测试芯片从所述第一寄存器读取的取值为第一取值时，确定所述受测芯片通过所述压力测试。

9.根据权利要求6、7或8所述的测试芯片，其特征在于，

所述调整单元，具体用于当施加于所述受测芯片的所述压力测试的次数小于预设次数时，以第一幅度增加所述当前工作频率；当施加于所述受测芯片的所述压力测试的次数不小于预设次数时，以第二幅度增加所述当前工作频率；其中，所述第一幅度大于所述第二幅度。

10.根据权利要求6、7或8所述的测试芯片，其特征在于，

所述调整单元，还用于当所述受测芯片的当前工作电压已经达到所述最大工作电压，且未通过本次压力测试时，缩小所述当前工作频率并返回对所述受测芯片的压力测试，其中，缩小后的所述当前工作频率，大于所述受测芯片前一次通过的所述压力测试对应的工作频率并小于所述本次压力测试对应的工作频率。