[发明专利]信息处理方法及测试芯片

说明书

本发明实施例公开了一种信息处理方法及测试芯片，所述方法包括：确定单一的受测芯片的当前工作频率和当前工作电压；对使用所述当前工作频率和当前工作电压工作的所述受测芯片，进行压力测试；当所述受测芯片通过所述压力测试时，增加所述当前工作频率并返回对所述受测芯片的压力测试；当所述受测芯片未通过所述压力测试时，增加所述当前工作电压；当增加后的所述当前工作电压不大于所述受测芯片支持的最大工作电压时返回对所述受测芯片的所述压力测试，否则根据所述受测芯片通过的压力测试对应的工作频率，确定所述受测芯片支持的最大工作频率。

技术领域

本发明涉及电子技术领域，尤其涉及一种信息处理方法及测试芯片。

背景技术

芯片，例如，中央处理机(Central Processing Unit，CPU)的工作频率，决定了芯片的响应速率。一般情况下，芯片有其最适宜工作的额定频率，在某些情况下芯片可以工作在超频状态。当芯片工作在超频状态时，芯片的工作频率高于所述额定频率，此时，芯片的响应速度进一步提升。但是芯片可以支撑的最大工作频率，为超频状态的最高工作频率。在现有技术中，在确定芯片的可支持的最高工作频率时，是基于超频(Over Clock，OC)测试确定的。在现有技术中OC测试是对多台设备进行批量测试，由测试人员输入一个工作频率，用于多台设备进行测试，当其中有一台设备不支持该工作频率时，测试人员就会相应的调整输入的工作频率，反复测试得到该组设备均支持的一个工作频率，作为该组设备内所有设备可支持的最高工作频率。但是，实际上不同设备的芯片的性能是不同，这种OC测试方法得到的设备可支持的最高工作频率，往往是不能反映单台设备的自身的性能的，进而设备一旦投入使用之后，不能最大限度的发挥设备自身的性能。故如何提升OC测试的精确度，如何使通过OC测试确定单台设备超频状态下支持的最高工作频率是现有技术亟待解决的一个问题。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例期望提供一种信息处理方法及测试芯片，至少部分解决上述问题。

为达到上述目的，本发明的技术方案是这样实现的：

本发明实施例第一方面提供一种信息处理方法，包括：

确定单一的受测芯片的当前工作频率和当前工作电压；

对使用所述当前工作频率和当前工作电压工作的所述受测芯片，进行压力测试；

当所述受测芯片通过所述压力测试时，增加所述当前工作频率并返回对所述受测芯片的压力测试；

当所述受测芯片未通过所述压力测试时，增加所述当前工作电压；

当增加后的所述当前工作电压不大于所述受测芯片支持的最大工作电压时返回对所述受测芯片的所述压力测试，否则根据所述受测芯片通过的压力测试对应的工作频率，确定所述受测芯片支持的最大工作频率。

基于上述方案，所述增加所述当前工作频率，还包括：

按照第一预设步长，增大倍频参数；

将增大后的所述倍频参数入到所述受测芯片；其中，所述倍频参数，用于供所述受测芯片在频率基值的基础上进行倍频处理。

基于上述方案，所述方法还包括：

测试芯片读取表征所述受测芯片在所述压力测试是否正常的第一寄存器；

当所述测试芯片从所述第一寄存器读取的取值为所述第一取值时，所述测试芯片确定所述待测芯片通过所述压力测试。

基于上述方案，所述增加所述当前工作频率，包括：

当施加于所述受测芯片的所述压力测试的次数小于预设次数时，以第一幅度增加所述当前工作频率；

当施加于所述受测芯片的所述压力测试的次数不小于预设次数时，以第二幅度增加所述当前工作频率；其中，所述第一幅度大于所述第二幅度。