[发明专利]一种设备辐射干扰的评估方法有效
| 申请号： | 201710127350.8 | 申请日： | 2017-03-06 |
| 公开（公告）号： | CN106932672B | 公开（公告）日： | 2019-06-07 |
| 发明（设计）人： | 吴伟;吴跃佳 | 申请（专利权）人： | 吴伟;吴跃佳 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 325000 浙江省温*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 设备 辐射 干扰 评估 方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种设备辐射干扰的评估方法，其特征在于，该方法包括如下步骤：
修改设备前，获取设备的传导干扰频谱Fc和辐射干扰频谱Fr，
找出辐射干扰频谱中特定频率电磁干扰的幅度值Ai及其对应的频率fi， i= 1，2，…N；
找出传导干扰频谱中对应频率fi的幅度值Bi；
计算标定系数Ci = Ai/Bi；
修改设备后，重新获取设备的传导干扰频谱，并且根据以下公式评估设备修改后的辐射干扰：
F’r = B’i× Ci
其中
F’r为设备修改后的辐射干扰；
B’i为设备修改后的传导干扰。
2.如权利要求1所述的一种设备辐射干扰的评估方法，其特征在于，所述获取设备的传导干扰频谱和辐射干扰频谱，包括从历史测试记录中获取或者通过测试获取。
3.如权利要求1所述的一种设备辐射干扰的评估方法，其特征在于，所述获取设备的传导干扰频谱，包括在屏蔽环境中测试所述设备或者在非屏蔽环境中测试所述设备。
4.如权利要求1所述的一种设备辐射干扰的评估方法，其特征在于，所述设备的传导干扰频谱，可以由电压测试仪器测量所述设备的电压信号并通过数学变换获得。
5.如权利要求1所述的一种设备辐射干扰的评估方法，其特征在于，所述设备的传导干扰频谱，可以由频率测试仪器测量所述设备获得。
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