[发明专利]一种设备辐射干扰的评估方法

说明书

一种设备辐射干扰的评估方法。该方法包括：修改设备前，获取设备的传导干扰频谱Fc和辐射干扰频谱Fr；找出辐射干扰频谱中幅度较大值Ai及其对应的频率fi，i=1，2，…N；找出传导干扰频谱中对应频率fi的幅度值Bi；计算标定系数Ci=Ai/Bi；修改设备后，重新获取设备的传导干扰频谱，并且根据以下公式评估设备修改后的辐射干扰：F’r=B’i X Ci。本发明的方法的有益效果在于：对设备修改后的设备电磁兼容状况验证分析能够在生产车间进行，加快产品的开发速度；由传导干扰评估辐射干扰，减少了昂贵的屏蔽室测试费用，从而降低设备电磁兼容成本。

技术领域

本发明涉及一种设备辐射干扰的评估方法，特别是涉及一种设备修改后辐射干扰的评估方法，属于电磁兼容技术领域。

背景技术

任何设备工作时不能干扰其他设备的正常工作，这就是“电磁兼容”（EMC）。为了确保产品的电磁兼容，现有EMC法规要求产品的电磁干扰（EMI）低于法规规定才能销售，而确认产品是否符合EMC法规规定的主要手段是对产品做传导干扰和辐射干扰测试，这些测试必需在屏蔽室内进行，以排除环境干扰对测试的影响。屏蔽室测试增加了测试的复杂程度和费用，增加了产品成本。

长期以来人们探索着通过两种途径来降低产品EMC测试的费用。一是将产品放在野外的开阔场所测试，但是随着电子设备的广泛应用，很难找到“干净的没有电磁干扰”的开阔场所。另外一条途径，是从产品的传导干扰推导出辐射干扰，将两项测试减少为一项，测试费用因此降低一半以下。然而，至今为止还没有一种方法能够从设备的传导干扰精确计算出产品的辐射干扰，其结果能够被EMC法规认可。

另一方面，当屏蔽室的标准测试结果表明一个设备的EMI超标时，设备制造商必须修改设备以降低EMI。期间需要不断地将修改后的设备送标准实验室测试，以验证修改的效果。虽然这种验证修改效果的测试的主要目的是检查本次修改后原来超标的EMI是否降低，但是设备的辐射干扰验证测试无可替代地要在屏蔽室内进行，增加了产品的研发成本。

发明内容

本发明提出一种设备辐射干扰的评估方法，与现有技术不同，这种方法允许在设备制造商的生产车间，而不是在昂贵的屏蔽室测试设备的传导干扰，并且根据设备的传导干扰评估设备的辐射干扰，从而降低测试成本。

本发明提出的一种设备辐射干扰的评估方法，其特征在于该方法包括如下步骤：

修改设备前，获取设备的传导干扰频谱Fc和辐射干扰频谱Fr，

找出辐射干扰频谱中特定频率电磁干扰的幅度值Ai及其对应的频率fi， i= 1，2，…N；

找出传导干扰频谱中对应频率fi的幅度值Bi；

计算标定系数Ci = Ai/Bi；

修改设备后，重新获取设备的传导干扰频谱，并且根据以下公式评估设备修改后的辐射干扰：

F’r = B’i X Ci

其中

F’r为设备修改后的辐射干扰；

B’i为设备修改后的传导干扰。

所述的一种设备辐射干扰的评估方法，其特征在于，所述获取设备的传导干扰频谱和辐射干扰频谱，包括从历史测试记录中获取或者通过测试获取。

所述的一种设备辐射干扰的评估方法，其特征在于，所述获取设备的传导干扰频谱，包括在屏蔽环境中测试所述设备或者在非屏蔽环境中测试所述设备。

所述的一种设备辐射干扰的评估方法，其特征在于，所述设备的传导干扰频谱，可以由电压测试仪器测量所述设备的电压信号并通过数学变换获得。

所述的一种设备辐射干扰的评估方法，其特征在于，所述设备的传导干扰频谱，可以由频率测试仪器测量所述设备获得。