[发明专利]一种用于存储环境下模拟坏盘测试的系统及方法有效
申请号: | 201710128628.3 | 申请日: | 2017-03-06 |
公开(公告)号: | CN106909484B | 公开(公告)日: | 2019-12-17 |
发明(设计)人: | 宋慧敏 | 申请(专利权)人: | 苏州浪潮智能科技有限公司 |
主分类号: | G06F11/26 | 分类号: | G06F11/26 |
代理公司: | 37205 济南舜源专利事务所有限公司 | 代理人: | 张亮 |
地址: | 215100 江苏省苏州市吴*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 存储 环境 模拟 测试 系统 方法 | ||
1.一种用于存储环境下模拟坏盘测试的方法,其特征在于,步骤包括:
SS1、建立磁盘阵列和逻辑卷初始化;
SS2、生成一个大容量文件以确保文件不会被完全缓存在内存中;
SS3、注入坏块;
SS4、异常重构及输出测试结果;
步骤SS1包括:
SS11、构建磁盘阵列环境;
SS12、注入坏块并添加io压力,其中io压力由同时使用一个dd读线程和一个dd写线程模拟;
SS13、查看磁盘阵列以及热备盘状态;
步骤SS12中的dd读线程和dd写线程的读写区域在设置的坏块的范围内;
步骤SS4包括:
SS41、将dd写线程的数据源改为大容量文件;
SS42、通过磁盘阵列容量和重构进度计算,在磁盘阵列重构大容量空间之前、之后和完全重构完成的三个时间点通过dd读出写入的测试文件;
SS43、对比写入和读出文件的md5值是否发生变化;
SS44、输出测试结果。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,通过以下命令进行dd写操作:dd if=/mnt/bkos/bsfi/sde/test.file of=/dev/vg-$RAID_NAME/lv-$RAID_NAME bs=64kcount=100000&。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,通过以下命令进行dd读操作:dd if=/dev/vg-$RAID_NAME/lv-$RAID_NAME of=/mnt/bkos/bsfi/sde/test.read bs=64kcount=100000&。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,步骤SS2中大容量文件为大小为7G的文件。
5.一种用于存储环境下模拟坏盘测试的系统,其特征在于,包括中控模块以及与中控模块分别连接的随机文件生成模块、坏块注入模块、读/写控制模块、 测 试结果输出模块,中控模块用于控制与其连接的各功能模块的工作,同时比对写入的文件以及在磁盘阵列重构大容量文件之前、之后和完全重构完成的三个时间点通过dd读出写入的测试文件的md5值;随机文件生成模块用于大容量文件以确保文件不会被完全缓存在内存中;坏块注入模块用于向成员盘注入坏块,坏块范围为成员盘的1M-20G范围,间隔一秒清除坏块并重新设置,以模拟磁盘不稳定或反应不正常的现象;读/写控制模块用于在建立磁盘阵列和逻辑卷初始化过程中,在注入坏块的同时使用一个dd读线程和一个dd写线程模拟现场io压力以及在异常重构阶段,将dd写线程的数据源改为固定的大容量文件,在该文件写入完成后,通过磁盘阵列容量和重构进度计算,在磁盘阵列重构大容量空间之前、之后和完全重构完成的三个时间点通过dd读出写入的测试文件;测试结果输出模块用于根据中控模块比对的md5值输出测试结果。
6.根据权利要求5所述的系统,其特征在于,大容量文件为大小为7G的文件。
7.根据权利要求5所述的系统,其特征在于,dd读线程和dd写线程的读写区域在设置的坏块的范围内。
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