[发明专利]一种用于存储环境下模拟坏盘测试的系统及方法

说明书

本发明提供一种用于存储环境下模拟坏盘测试的系统及方法，通过发明的方案可以在测试当中需要模拟各种硬盘故障情况，从而单独靠拔硬盘并不能全面的复现用户实际使用中遇到的各种问题的情况得以解决，这种测试方法可以模拟用户使用当中硬盘出现读写错误的环境，能更全面的测试存储产品。

技术领域

本发明涉及存储领域，具体涉及用于存储环境下模拟坏盘测试的系统及方法。

背景技术

信息化时代计算领域发生了很大的变化，无论如何变化，计算机处理和产生数据的重要性却没有改变，数据一旦丢失，所有的计算能力变得毫无价值。我们必须看到，数据逐步成为一个自有存储的、不属于任何特定系统的实体，就像资本或智力财产一样，数据也成为一种可以共同享用的财富，需要加以存储和保护。

信息的储存是信息系统的重要方面，如果没有信息储存，就不能充分利用已收集、加工所得信息，同时还要耗资、耗人、耗物来组织信息的重新收集、加工。有了信息储存，就可以保证随用随取，为单位信息的多功能利用创造条件，从而大大降低了费用。

信息的储存最终保存在了硬盘里面，当这些硬盘运行了几千个小时之后，很多物理参数都会发生变化，硬盘的损坏有很大的几率损坏，而用户很在使用当中可能出现大量磁盘读写错误，单靠插拔硬盘并不能复现用户使用过程中遇到的问题，因此模拟磁盘损坏现象从而测试磁盘的性能，以确保在这种环境下储存数据不会出现错误就成了亟需解决的问题。

发明内容

为解决上述技术问题，本发明的技术方案如下：

本发明提供一种用于存储环境下模拟坏盘测试的方法，步骤包括：

SS1、建立磁盘阵列和逻辑卷初始化；

SS2、生成一个大容量文件以确保文件不会被完全缓存在内存中；

SS3、注入坏块；

SS4、异常重构及输出测试结果。

进一步的，步骤SS1包括：

SS11、构建磁盘阵列环境；

SS12、注入坏块并添加io压力，其中io压力由同时使用一个dd读线程和一个dd写线程模拟；

SS13、查看磁盘阵列以及热备盘状态。

进一步的，步骤SS12中的dd读线程和dd写线程的读写区域在设置的坏块的范围内。

进一步的，步骤SS4包括：

SS41、将dd写线程的数据源改为大容量文件；

SS42、通过磁盘阵列容量和重构进度计算，在磁盘阵列重构大容量空间之前、之后和完全重构完成的三个时间点通过dd读出写入的测试文件；

SS43、对比写入和读出文件的md5值是否发生变化；

SS44、输出测试结果。

进一步的，通过以下命令进行dd写操作：dd if＝/mnt/bkos/bsfi/sde/test.fileof＝/dev/vg-$RAID_NAME/lv-$RAID_NAME bs＝64k count＝100000&。

进一步的，通过以下命令进行dd读操作：ddif＝/dev/vg-$RAID_NAME/lv-$RAID_NAME of＝/mnt/bkos/bsfi/sde/test.readbs＝64k count＝100000&。

进一步的，步骤SS2中大容量文件为大小为7G的文件。