[发明专利]基于折射原理精准测量光栅薄片栅距的方法有效
申请号: | 201710140064.5 | 申请日: | 2017-03-10 |
公开(公告)号: | CN106931893B | 公开(公告)日: | 2020-01-07 |
发明(设计)人: | 黄攸平;丁琳;陈皇煌;吴心妮 | 申请(专利权)人: | 黄攸平;丁琳;陈皇煌;吴心妮 |
主分类号: | G01B11/14 | 分类号: | G01B11/14 |
代理公司: | 35200 厦门南强之路专利事务所(普通合伙) | 代理人: | 马应森 |
地址: | 362200 福建省泉州市*** | 国省代码: | 福建;35 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 折射 原理 精准 测量 光栅 薄片 方法 | ||
1.基于折射原理精准测量光栅薄片栅距的方法,其特征在于包括以下步骤:
1)用放大镜测出实际光栅薄片的栅距大小;
2)利用电脑制版设计软件,先设计出等间距的黑白线条,并利用印刷专用的出片机,把所述等间距的黑白线条打印在菲林片上;
3)把光栅薄片覆盖在步骤2)打印出的菲林片上,不同间距的黑白线条在光栅薄片上呈现出不同大小的黑白图案,并且每条黑白线条在光栅薄片上呈现出来的是等距离的黑白图案,在黑白线条的相关数据测量后,创立测量计算公式;
所述创立测量计算公式的方法为:
设计的黑白线条的栅距为D,实际的光栅薄片的栅距为d,把光栅薄片覆在打印出来的菲林片上,在光栅薄片上呈现出一个间距为L的完整的黑白图案时,说明在该间距L范围内,光栅薄片的栅距的数量与设计的黑白线条的栅距的数量刚好相差一个栅距的大小,所用计算公式为:L/D-L/d=±1,其中±1表示在间距L内,光栅薄片栅距的数量比设计的黑白线条的栅距的数量多一个或少一个;
4)利用计算所得的数据为依据,得光栅薄片的栅距,再通过电脑软件再次打印印刷专用的菲林片验证数据是否正确,若得到的图案全是黑色或白色,则说明这个黑白线条的间距与实际所用的光栅薄片的栅距相同。
2.如权利要求1所述基于折射原理精准测量光栅薄片栅距的方法,其特征在于在步骤1)中,所述放大镜采用20倍放大镜;所述测出实际光栅薄片的栅距大小,达到小数点后两位数,以75线的光栅薄片为例,在20倍放大镜中测得2.00mm刚好是6个光栅的栅距,平均得栅距是0.33mm。
3.如权利要求1所述基于折射原理精准测量光栅薄片栅距的方法,其特征在于在步骤2)中,所述利用电脑制版设计软件,设计出以mm为单位,精确到小数点后面四位数、相同间距的黑白线条。
4.如权利要求1所述基于折射原理精准测量光栅薄片栅距的方法,其特征在于在步骤3)中,所述不同间距的黑白线条,其间距分别为0.330mm、0.331mm……0.339mm、0.340mm。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于黄攸平;丁琳;陈皇煌;吴心妮,未经黄攸平;丁琳;陈皇煌;吴心妮许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201710140064.5/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:光学检测装置
- 下一篇:一种非结构环境下生物材料湿表面应变检测方法