[发明专利]一种处理滤膜得到校准尘膜的方法以及一种由校准尘膜进行场外校准的方法

说明书

本发明属于颗粒物检测技术领域，为了能够准确地对β射线法颗粒物自动分析仪进行校准，提供了一种处理滤膜得到校准尘膜的方法以及一种由校准尘膜进行场外校准的方法。本发明通过筛选一批符合特定要求的滤膜作为基体滤膜，在实际环境中处理得到校准尘膜。通过测量采样前后的β粒子计数值，反推出修正系数K，使用修正系数K对β射线法悬浮颗粒物分析仪进行修正。根据实施例的计算结果可知，使用校准尘膜对β射线法悬浮颗粒物分析仪校准，校准后β射线法悬浮颗粒物分析仪所测浓度更加接近于手工浓度，CV值约为7～8％，能够更好地反映空气中PM污染浓度的变化情况。

技术领域

本发明涉及颗粒物检测技术领域，尤其涉及一种处理滤膜得到校准尘膜的方法以及一种由校准尘膜进行场外校准的方法。

背景技术

目前，β射线法颗粒物自动分析仪在国内外得到了广泛的应用，β射线法颗粒物自动分析仪是根据探测器检测到的β射线强度与待测物质含量之间的关系进行定量分析的，理论基础是β射线吸收定律。β射线吸收定律为β射线在穿过一定厚度的吸收物质时，发生相互作用后强度减弱的现象，这种强度减弱也被称作物质对射线的吸收。β射线强度变化与物质的浓度、质量厚度以及质量吸收系数有关。β射线吸收定律如式Ⅳ所示：

式Ⅳ中：

I′₀—通过空白滤纸带的β粒子计数值；

I′₁—通过覆盖颗粒物滤纸带的β粒子计数值；

μ_m—质量吸收系数，仅与样品材料有关(cm²/mg)，对于不同的吸收物质，μ_m随原子序数的增加而缓慢地增加，对于同一吸收物质，μ_m与放射能量有关，其经验值为0.29cm²/mg；

t_m—质量厚度(mg/cm²)。

然而，β射线法颗粒物自动分析仪所使用的标准膜片均为各厂家自行生产，无法进行量值溯源和量值统一，并且作为标准物质的校准膜多是用有机复合材料制作而成，其测量结果受颗粒物成分影响较大。

发明内容

本发明的目的在于提供处理滤膜得到校准尘膜的方法以及一种由校准尘膜进行场外校准的方法，能够准确地对β射线法颗粒物自动分析仪进行校准。

为了实现上述发明目的，本发明提供以下技术方案：

本发明提供了一种处理滤膜得到校准尘膜的方法，包含以下步骤：

(1)对基体滤膜进行基础筛选，得到待测空白基体滤膜；

所述基础筛选的标准为：

①孔径和厚度：孔径≤2μm，厚度为0.2～0.25mm；

②截留效率：作为PM10采样滤膜时，对0.3μm颗粒物的截留效率≥99％；作为PM2.5采样滤膜时，对0.3μm颗粒物的截留效率≥99.7％；

③最大压降：在0.45m/s的洁净空气流速时，压降≤3KPa；

④最大吸湿性：暴露在湿度为40％RH的空气中24h后与暴露在湿度为35％RH的空气中24h后的质量增加值≤10μg；

⑤重量稳定性：坠落测试平均质量变化≤20μg，温度测试平均质量变化≤20μg；

(2)以β射线法颗粒物分析仪外部膜片测量功能，测量不放置滤膜状态下的初始β射线强度，记为I；将所述待测空白基体滤膜放置在膜托上，将所述膜托按照一定角度等分为多个点位；对不同点位的β射线强度值进行测量，记为Iⁿ，得到不同点位的ln(I/Iⁿ)值；所述n为不同点位的标号；