[发明专利]显示设备和短路测试方法有效

专利信息
申请号: 201710169001.2 申请日: 2017-03-21
公开(公告)号: CN107219433B 公开(公告)日: 2020-11-27
发明(设计)人: 朴庆泰 申请(专利权)人: 三星显示有限公司
主分类号: G01R31/52 分类号: G01R31/52
代理公司: 北京德琦知识产权代理有限公司 11018 代理人: 康泉;宋志强
地址: 韩国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 显示 设备 短路 测试 方法
【权利要求书】:

1.一种显示设备,包括:

基板,包括显示图像的显示区域和与所述显示区域相邻的周围区域;

在所述基板上的至少一条线,所述至少一条线从所述周围区域延伸穿过所述显示区域;

在所述显示区域上的多个像素,所述像素被连接到所述至少一条线;

在所述周围区域上的外部线,在检测短路缺陷的位置的短路测试过程期间,所述外部线被连接到所述至少一条线;

在所述周围区域上的静电保护电阻器,所述静电保护电阻器被连接到所述外部线;

在所述周围区域上的焊盘,所述焊盘通过所述静电保护电阻器被连接到所述外部线,在所述短路测试过程期间,短路测试信号被施加到所述焊盘;以及

旁路线,在所述短路测试过程期间,所述旁路线将所述焊盘和所述静电保护电阻器之间的节点连接到所述外部线,使得所述短路测试信号绕过所述静电保护电阻器。

2.根据权利要求1所述的显示设备,其中,在所述短路测试过程期间,所述短路测试信号通过所述旁路线和所述外部线被施加到所述至少一条线,并且

其中,由所述短路测试信号在所述至少一条线处产生的热能通过热检测器被测量,以检测所述短路缺陷的位置。

3.根据权利要求2所述的显示设备,其中,所述至少一条线在所述短路缺陷的位置处被断开,并且用于连接断开的线的连接线使用激光化学气相沉积工艺被形成。

4.一种用于显示设备的短路测试方法,所述方法包括:

将形成在基板的周围区域上的外部线连接到具有短路缺陷的至少一条线;

将连接到静电保护电阻器的焊盘通过绕过所述静电保护电阻器的旁路线连接到所述外部线;以及

将短路测试信号施加到所述焊盘,使得所述短路测试信号通过所述旁路线和所述外部线被供给到所述至少一条线。

5.根据权利要求4所述的短路测试方法,进一步包括:

通过测量由所述短路测试信号在所述至少一条线处产生的热能,检测所述短路缺陷的位置。

6.根据权利要求5所述的短路测试方法,进一步包括:

在所述短路缺陷的位置处断开所述至少一条线;以及

使用激光化学气相沉积工艺形成用于连接断开的线的连接线。

7.根据权利要求5所述的短路测试方法,进一步包括:

在所述短路缺陷的位置处将所述至少一条线断开为连接到驱动电路的第一部分和未连接到所述驱动电路的第二部分;以及

将所述至少一条线的所述第二部分连接到所述外部线。

8.根据权利要求7所述的短路测试方法,其中,所述外部线是环形修复线,所述环形修复线接收与施加到所述至少一条线的所述第一部分的电信号相同的电信号。

9.根据权利要求5所述的短路测试方法,进一步包括:

将位于所述短路缺陷的位置处的像素中的至少一个像素的发光元件连接到修复像素而不是所述像素中的所述至少一个像素。

10.根据权利要求9所述的短路测试方法,其中,所述外部线是连接到所述修复像素的修复数据线。

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