[发明专利]显示设备和短路测试方法

说明书

本发明涉及一种显示设备和短路测试方法。该显示设备包括：基板；在基板上的一条线，该一条线从周围区域延伸穿过显示区域；在显示区域上的像素，像素被连接到该一条线；在周围区域上的外部线，在检测短路缺陷的位置的短路测试过程期间，外部线被连接到该一条线；在周围区域上的静电保护电阻器，静电保护电阻器被连接到外部线；在周围区域上的焊盘，焊盘通过静电保护电阻器被连接到外部线，在短路测试过程期间，短路测试信号被施加到焊盘；以及旁路线，将焊盘和静电保护电阻器之间的节点连接到外部线。

技术领域

示例实施例大体涉及显示设备。更具体地，本发明构思的实施例涉及短路缺陷的位置被检测的显示设备和检测短路缺陷的位置的短路测试方法。

背景技术

当在诸如有机发光二极管(OLED)显示设备、液晶显示(LCD)设备等显示设备中产生导线被不期望地连接的短路缺陷，因此产生电流通过其绕过一电路的意想不到的低阻路径时，可使用显微镜检测短路缺陷的位置，并且可在检测到的缺陷位置处修复导线。然而，当在不同层的导线被垂直连接时，不能通过显微镜检测到该短路缺陷的位置。该短路缺陷可被称为隐藏的短路缺陷，并且需要一种能检测隐藏的短路缺陷的位置的技术。

发明内容

一些示例实施例提供了一种容易检测短路缺陷的显示设备。

一些示例实施例提供了一种容易检测短路缺陷的短路测试方法。

根据示例实施例，提供了一种显示设备，包括：基板，包括显示图像的显示区域和与显示区域相邻的周围区域；在基板上的至少一条线，该至少一条线从周围区域延伸穿过显示区域；在显示区域上的多个像素，像素被连接到该至少一条线；在周围区域上的外部线，在检测短路缺陷的位置的短路测试过程期间，外部线被连接到该至少一条线；在周围区域上的静电保护电阻器，静电保护电阻器被连接到外部线；在周围区域上的焊盘，焊盘通过静电保护电阻器被连接到外部线，在短路测试过程期间，短路测试信号被施加到焊盘；以及旁路线，在短路测试过程期间，旁路线将焊盘和静电保护电阻器之间的节点连接到外部线，使得短路测试信号绕过静电保护电阻器。

在示例实施例中，在短路测试过程期间，短路测试信号可通过旁路线和外部线被施加到该至少一条线，并且由短路测试信号在该至少一条线处产生的热能可通过热检测器被测量来检测短路缺陷的位置。

在示例实施例中，该至少一条线可在短路缺陷的位置处被断开，并且用于连接断开的线的连接线可使用激光化学气相沉积工艺被形成。

在示例实施例中，外部线可以是环形修复线。

在示例实施例中，该至少一条线可在短路缺陷的位置处被断开为第一部分和第二部分。该至少一条线的第一部分可被连接到驱动电路，并且可直接接收来自驱动电路的电信号。该至少一条线的第二部分可被连接到环形修复线，并且可从驱动电路通过环形修复线接收电信号。

在示例实施例中，外部线可以是修复数据线。

在示例实施例中，显示设备可进一步包括在周围区域上的至少一个修复像素，修复像素被连接到修复数据线。位于短路缺陷的位置处的像素中的至少一个像素的发光元件可被连接到修复像素而不是像素中的至少一个像素。

在示例实施例中，在短路测试过程之后，旁路线可被断开。

在示例实施例中，显示设备可进一步包括在周围区域上的密封件，密封件围绕显示区域。旁路线被断开的位置可被密封件覆盖。

在示例实施例中，显示设备可进一步包括在静电保护电阻器和外部线之间的晶体管，晶体管被配置为响应于测试控制信号选择性地连接静电保护电阻器和外部线。

在示例实施例中，旁路线可将焊盘连接到外部线，使得短路测试信号绕过静电保护电阻器和晶体管。