[发明专利]电子系统及其上、下电状态检测电路

说明书

一种电子系统及其上、下电状态检测电路，所述电子系统包括主电路和IO接口电路，所述上、下电状态检测电路包括：第一电平转换电路，其第一输入端接入所述主电路的电源电压，其第二输入端接入所述IO接口电路的电源电压，所述第一电平转换电路适于对所述主电路的电源电压进行电平转换，以产生上下电检测信号，所述上下电检测信号处于所述IO接口电路的电源电压界定的电源域。本发明方案既可以有效检测所述主电路和IO接口电路的上电状态还可以有效检测所述主电路的下电状态，并具有较低的漏电流，较宽的电源电压适用范围，较小的电路面积。

技术领域

本发明涉及电子电路设计领域，特别涉及一种电子系统及其上、下电状态检测电路。

背景技术

在集成电路(Integrated Circuit，简称IC)中，通常至少可以包括主电路和IO(Input/Output)接口电路两个电路域。其中，主电路可以包括所述IO接口电路以外的其他功能电路，一般被称为内核电路，也可以被称为是知识产权(Intellectual Property，简称IP)核。

以所述主电路为IP核为例。IO接口电路具有输入/输出双向端口。在芯片内部，IP核可以发送数据信号至IO接口电路进行信号输出，也可以接收IO接口电路输入的数据信号进行读取。一般来说，IP核和IO接口电路处于不同的电源域，例如，IP核的电源电压为1.2V，IO接口电路的电源电压为2.5V。在芯片内部上电时，通常先对IO接口电路供电，而后对IP核供电；下电时，通常先对IP核下电，而后对IO接口电路下电。但是，由于IP核在未上电时传输至IO接口电路的数据信号的电平逻辑是浮动(floating)的，可能会引起IO电路中产生漏电流，这与产品低功耗的需求严重相悖。因此，需要对芯片中的主电路和IO接口电路的上、下电情况进行检测。当检测到仅有IO接口电路上电而主电路未上电时，将检测产生的具有确定电平逻辑的数据信号传输至IO接口电路，对IO接口电路的输入逻辑进行设置，以避免产生上述漏电流，节约功耗。

现有技术中存在一种采用了高电平选择的方式，对主电路和IO接口电路的上、下电检测的电路，该电路能够在集成电路的IO接口电路上电后，检测主电路是否上电，然而，当所述主电路上电后又下电时，是无法检测到的。

因此，现有技术中的上、下电状态检测电路具有功能缺陷，无法实现对主电路下电状态的有效检测。

发明内容

本发明解决的一个技术问题是如何实现电子系统中主电路和IO接口电路的上、下电状态的有效检测。

为解决上述技术问题，本发明实施例提供一种电子系统的上、下电状态检测电路，所述电子系统包括主电路和IO接口电路，所述上、下电状态检测电路包括：第一电平转换电路，其第一输入端接入所述主电路的电源电压，其第二输入端接入所述IO接口电路的电源电压，所述第一电平转换电路适于对所述主电路的电源电压进行电平转换，以产生上下电检测信号，所述上下电检测信号处于所述IO接口电路的电源电压界定的电源域。