[发明专利]基于扫描探针的光路减震装置及方法有效
申请号: | 201710196841.8 | 申请日: | 2017-03-29 |
公开(公告)号: | CN107064563B | 公开(公告)日: | 2020-06-23 |
发明(设计)人: | 蓝剑越;刘争晖;徐耿钊;钟海舰;陈科蓓;张春玉;徐科 | 申请(专利权)人: | 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所 |
主分类号: | G01Q30/00 | 分类号: | G01Q30/00 |
代理公司: | 上海翼胜专利商标事务所(普通合伙) 31218 | 代理人: | 翟羽 |
地址: | 215123 江苏省苏州市*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 扫描 探针 减震 装置 方法 | ||
本发明提供一种基于扫描探针的光路减震装置及方法,用于减少光路振动,所述装置包括控制器、第一扫描振镜及一第二扫描振镜、第一采样镜及第二采样镜、第一四象限光探测器及第二四象限光探测器。本发明的优点在于,通过四象限光探测器感应光路中光信号,并将其位置信息进行实时反馈,通过扫描振镜调节光源的光路,使得样品上的光斑位置相对样品保持稳定不变,实现控制光斑稳定不漂移。本发明方法在减少光路振动的基础上,提高了扫描探针显微镜在材料表面光电测量上的稳定性和可靠性,提升了扫描探针显微镜在微区光电响应表征的准确度。
技术领域
本发明涉及光电测试领域,尤其涉及一种基于扫描探针的光路减震装置及方法。
背景技术
在材料的微观光电表征分析中,通常需要涉及到辅助的光路系统。在常规的激光辅助光电测试系统中,特别是单激光光源多设备联用的情况下,一般测试系统和光学系统是分立的。测量过程中,首先对样品进行普通的表面电学表征。之后,对样品的光电响应进行表征的时候,加入激光,激光光源是从另一独立的设备中发射过来,并通过反射镜、准直镜等的调节最终将激光光斑投射到指定的位置;最后通过扫描探针设备对样品进行测试,实现定点原位光电响应表征。
但是,由于扫描探针设备和激光光源设备是两套独立的系统,并且由于不同设备对振动噪声的屏蔽程度要求不同,因此,当设备工作时,光源和扫描探针设备总是会存在一定的相对运动,如果激光在到达扫描探针指定测量的区域之前需要传播的距离过长,那么样品上的光斑就会出现由于光路的放大导致的光斑晃动漂移,使得光斑不能准确的聚焦在指定的位置,影响实验测量结果的准确性。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是,提供一种基于扫描探针的光路减震装置及方法,其能够控制光斑稳定不漂移。
为了解决上述问题,本发明提供了一种基于扫描探针的光路减震装置,包括:一控制器;一第一扫描振镜及一第二扫描振镜,所述第一扫描振镜设置在光源之后,用于改变光源发出的光的光路,所述第二扫描振镜设置在所述第一扫描振镜与样品台之间,用于改变第一扫描振镜反射的光的光路,并将光反射向样品台,所述第一扫描振镜及第二扫描振镜分别与控制器电连接,所述控制器控制第一扫描振镜及第二扫描振镜的转动;一第一采样镜及一第二采样镜,所述第一采样镜设置在第一扫描振镜及第二扫描振镜之间的光路上,用于采集该光路的光信号,所述第二采样镜设置在第二扫描振镜与样品台之间的光路上,用于采集该光路的光信号;一第一四象限光探测器及一第二四象限光探测器,所述第一四象限光探测器相对于第一采样镜设置,用于检测来自第一采样镜的光,并将该光在第一四象限光探测器上的位置信息传递给控制器,所述第二四象限光探测器相对于第二采样镜设置,用于检测来自第二采样镜的光,并将该光在第二四象限光探测器上的位置信息传递给控制器。
进一步,所述第一扫描振镜与光源在同一水平面上放置,所述第一扫描振镜与所述第二扫描振镜在同一竖直面上放置。
进一步,还包括一反射镜,所述反射镜设置在第二扫描振镜与样品台之间,将所述第二扫描振镜反射的光反射向样品台。
进一步,所述反射镜与所述第二扫描振镜在同一水平面上放置,并与所述样品台在同一竖直面上放置。
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