[发明专利]基板处理装置有效
申请号: | 201710201871.3 | 申请日: | 2017-03-30 |
公开(公告)号: | CN107275259B | 公开(公告)日: | 2021-11-30 |
发明(设计)人: | 稻富弘朗;中村徹;木本晃司;清原康雄;冈村聪;枇杷聪;山元伸矢;大川胜宏;矢羽田庆一;中原哲郎 | 申请(专利权)人: | 东京毅力科创株式会社 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇;张会华 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 处理 装置 | ||
1.一种基板处理装置,其特征在于,
该基板处理装置具有:
液处理部,其使用处理液对基板进行液处理;
干燥处理部,其对由所述液处理部进行了液处理之后的湿润状态的所述基板进行干燥处理;
基板载置部,其供由所述液处理部进行液处理之前的干燥状态的所述基板载置;
第1输送部,其将处理前的所述基板从所述基板载置部向所述液处理部输送;
第2输送部,其从所述液处理部向所述干燥处理部输送湿润状态的所述基板;
第3输送部,其向所述基板载置部输送由所述液处理部进行液处理之前的所述基板,并且从所述干燥处理部输送干燥处理后的所述基板,
在面对所述第3输送部的一侧配置有所述第1输送部、所述第2输送部、所述基板载置部以及所述干燥处理部,在所述干燥处理部和所述基板载置部之间配置有所述第1输送部和所述第2输送部,在面对所述第1输送部和所述第2输送部并且与所述第3输送部相反的一侧配置有所述液处理部,在所述第3输送部和所述液处理部之间配置有所述第1输送部和所述第2输送部。
2.根据权利要求1所述的基板处理装置,其特征在于,
针对1个所述第1输送部和1个所述第2输送部设置有多个所述液处理部或多个所述干燥处理部,多个所述液处理部或多个所述干燥处理部共用所述第1输送部和所述第2输送部。
3.根据权利要求1或2所述的基板处理装置,其特征在于,
所述第3输送部在其与收容有多张所述基板的承载件之间进行所述基板的输送。
4.根据权利要求1或2所述的基板处理装置,其特征在于,
在所述干燥处理部中,使盖体和基板载置台相对于容器主体能够向收容到内部的处理位置和退避到外部的待机位置移动,利用所述第2输送部将所述基板输入所述干燥处理部的盖体和基板载置台的待机位置,利用所述第3输送部将所述基板从所述干燥处理部的盖体和基板载置台的待机位置输出。
5.根据权利要求1或2所述的基板处理装置,其特征在于,
所述干燥处理部使用超临界流体对湿润状态的所述基板进行干燥处理。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造