[发明专利]一种用于AMOLED产品的绑定效果检测装置及检测方法

权利要求书

1.一种用于AMOLED产品的绑定效果检测装置，所述AMOLED产品包含AMOLED玻璃板、绑定在所述AMOLED玻璃板上的IC芯片、绑定在所述AMOLED玻璃板上的FPC线路板，所述FPC线路板的导电端连接在AMOLED玻璃板上、测试端位于AMOLED玻璃板外部，所述测试端设有两组与所述IC芯片电连接的COG测试点，其特征在于，所述绑定效果检测装置包括：底座、可旋转设于所述底座上的旋转探头、与所述旋转探头电连接的显示器，所述旋转探头上设有两组COG阻抗探针，该两组阻抗探针的排布位置分别与两组COG测试点相同；所述底座上设有用于放置AMOLED产品的测试区，所述旋转探头可转动至FPC线路板上方，所述两组COG阻抗探针与两组COG测试点接触。

2.如权利要求1所述的绑定效果检测装置，其特征在于，所述旋转探头与显示器之间设有测量控制系统，所述测量控制系统包括：与所述两组COG阻抗探针连接的测量电路、与所述测量电路连接的CPU、连接在CPU上的供电模块，所述CPU内设有A/D转换模块，所述A/D转换模块接收所述测量电路的模拟信号并转换成数字信号发送给CPU，所述显示器连接在所述CPU上。

3.如权利要求2所述的绑定效果检测装置，其特征在于，所述CPU还连接有用于储存测量数据的存储器。

4.如权利要求2或3所述的绑定效果检测装置，其特征在于，所述测试端还设有两组与所述导电端电连接的FOG测试点，所述旋转探头上设有与所述测量电路连接的两组FOG阻抗探针，该两组FOG阻抗探针的排布位置分别与两组FOG测试点相同；所述旋转探头可转动至FPC线路板上方，所述两组COG阻抗探针与两组COG测试点接触、所述两组FOG阻抗探针与两组FOG测试点接触。

5.如权利要求2所述的绑定效果检测装置，其特征在于，所述底座上还设有按键组，所述按键组包含电源开关、用于切换显示器显示结果的上翻开关和下翻开关，所述电源开关与所述供电模块连接，所述上翻开关和下翻开关连接在所述CPU上。

6.一种如权利要求4所述绑定效果检测装置的检测方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤1、测量控制系统上电，设定CPU的COG预设阻抗值和FOG预设阻抗值；

步骤2、将AMOLED产品放置在测试区；

步骤3、转动旋转探头，使两组COG阻抗探针与两组COG测试点接触、两组FOG阻抗探针与两组FOG测试点接触，测量电路采集COG阻抗信号和FOG阻抗信号；

步骤4、CPU将COG阻抗信号转换成COG检测阻抗值，FOG阻抗信号转换成FOG检测阻抗值，再将COG检测阻抗值与COG预设阻抗值、FOG检测阻抗值与FOG预设阻抗值分别进行对比，两组检测阻抗值均达到预设阻抗值时进行步骤5，未达到时进行步骤6；

步骤5、CPU将检测阻抗值存入存储器中，CPU控制显示器显示合格信息，该AMOLED产品测试结束；

步骤6、CPU控制显示器显示不合格信息，该AMOLED产品测试结束。