[发明专利]电容性侧面位置外推

说明书

本发明涉及电容性侧面位置外推。一种用于电容性感测的方法包括：获取包括感测区的感测信号的影响的互电容性测量结果，以及获取包括所述感测信号的影响的绝对电容性测量结果。所述方法还包括执行所述互电容性测量结果与所述绝对电容性测量结果的比较，以及基于所述比较来检测接近于输入设备的侧表面的输入对象的存在。所述侧表面与所述输入设备上的感测区至少基本上正交。所述方法还包括报告所述输入对象的存在。

技术领域

本发明总体上涉及电子设备。

背景技术

包括接近传感器设备（通常也称为触摸板或触摸传感器设备）的输入设备被广泛地用在多种电子系统中。接近传感器设备典型地包括常常通过表面来区分的感测区，在其中接近传感器设备确定一个或多个输入对象的存在、位置和/或运动。接近传感器设备可以用于为电子系统提供界面。例如，接近传感器设备常常被用作用于较大计算系统的输入设备（诸如集成在笔记本或台式计算机中或者在其外围的不透明触摸板）。接近传感器设备也常常被用在较小计算系统中（诸如集成在蜂窝电话中的触摸屏）。

发明内容

一般地，在一个方面中，一个或多个实施例涉及一种被配置用于电容性侧面触摸响应外推的处理系统。所述处理系统包括具有用于以下的功能性的传感器电路：在感测区的多个传感器电极上驱动感测信号，获取包括所述感测信号的影响的互电容性测量结果，以及获取包括所述感测信号的影响的绝对电容性测量结果。所述感测区包括表面感测区。所述处理系统还包括具有用于以下的功能性的处理电路：执行所述互电容性测量结果与所述绝对电容性测量结果的比较，以及基于所述比较来检测接近于输入设备的侧表面的输入对象的存在。所述侧表面与所述输入设备上的表面感测区至少基本上正交。所述处理系统还包括用于报告所述输入对象的存在的功能性。

一般地，在一个方面中，一个或多个实施例涉及一种用于电容性感测的方法，包括：获取包括感测区的感测信号的影响的互电容性测量结果；获取包括所述感测信号的影响的绝对电容性测量结果；执行所述互电容性测量结果与所述绝对电容性测量结果的比较；以及基于所述比较来检测接近于输入设备的侧表面的输入对象的存在。所述感测区包括表面感测区。所述侧表面与所述输入设备上的表面感测区至少基本上正交。所述方法还包括报告所述输入对象的存在。

一般地，在一个方面中，一个或多个实施例涉及一种用于电容性感测的输入设备，包括：用于从电容性感测信号接收作为结果的信号的多个传感器电极；以及处理系统。所述处理系统被配置成：在感测区的多个传感器电极上驱动感测信号；使用所述作为结果的信号来获取互电容性测量结果；使用所述作为结果的信号来获取绝对电容性测量结果；以及执行所述互电容性测量结果与所述绝对电容性测量结果的比较。所述感测区包括表面感测区。所述处理系统还被配置成基于所述比较来检测接近于输入设备的侧表面的输入对象的存在。所述侧表面与所述输入设备上的表面感测区至少基本上正交。所述处理系统还被配置成报告所述输入对象的存在。

本发明的其它方面将从以下描述和所附权利要求中显而易见。

附图说明

在下文中将结合附图来描述本发明的优选示例性实施例，在附图中，相似的命名表示相似的要素，并且：

图1、2和3示出了根据本发明的一个或多个实施例的示意图。

图4、5和6示出了根据本发明的一个或多个实施例的流程图。

图7、8.1、8.2、8.3、8.4、8.5和8.6示出了根据本发明的一个或多个实施例的示例。

具体实施方式

以下的具体实施方式在本质上仅仅是示例性的并且不意图限制本发明或本发明的应用和用途。此外，不意图被前面的技术领域、背景技术、发明内容或以下的具体实施方式中呈现的任何明示的或暗示的理论所约束。