[发明专利]一种电容式触控按键芯片检测标定系统及方法有效

专利信息
申请号: 201710218933.1 申请日: 2017-04-06
公开(公告)号: CN107037352B 公开(公告)日: 2020-01-17
发明(设计)人: 庞新洁 申请(专利权)人: 芯海科技(深圳)股份有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 44324 深圳市神州联合知识产权代理事务所(普通合伙) 代理人: 王志强
地址: 518067 广东省深圳市南山*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 电容 式触控 按键 芯片 检测 标定 系统 方法
【权利要求书】:

1.一种电容式触控按键芯片检测标定系统,其特征在于该系统包括有插入检测及标定模块、通信控制及寄存器配置模块、数据存储模块、按键处理模块、对比分析模块、差错处理模块、电源控制模块和终端控制模块,所述插入检测及标定模块、通信控制及寄存器配置模块、数据存储模块、按键处理模块、对比分析模块、差错处理模块、电源控制模块、终端控制模块集成于ARM处理器中;

所述插入检测及标定模块,是对所接触芯片管脚的电气连接特性进行检测,对被测芯片的烧录接口及其他通信管脚进行连接性检查即开短路测试;

所述数据存储模块是存放文件索引表、客户hex的代烧录程序文件、触控按键检测hex文件、芯片型号及标识信息及芯片设计指标数据;

所述通信控制及寄存器配置模块,包含研发测试模式下和批量测试模式下的人机交互处理和寄存器配置的功能;

所述按键处理模块,包含触摸芯片按键检测和输入按键检测两个部分,触摸芯片按键检测是检测触控按键的灵敏度,进而根据分析对比方法来判断芯片触控指标性能的优劣;输入按键检测是检测在批量测试模式下人机接口,主要完成用户输入的命令和数据的操作,完成批量测试模式下触控按键芯片性能的激励输入;

所述对比分析模块,是对利用标准模块和被测芯片的触控按键依据检测原理对检测到的数据进行对比分析,被测芯片按键处理模块将采集到的数据传送给对比分析模块,对比分析模块运行标准检测单元采集同源触控信息,然后将触控信息和设计标准进行对比分析,进而得到在不同模式下所需要的触控按键性能差别信息;

所述差错处理模块,是检测上下位机之间通信数据帧是否正确、判断USB插入的错误处理、被测芯片管脚是否接触良好和触控按键时钟频率标定出错处理;

所述电源控制模块,包含被测芯片烧录电压控制和被测芯片供电电压控制,被测芯片烧录电压控制是PC端通过发送指令实现对不同ID类型芯片输出不同烧录电压的操作;被测芯片供电电压控制是控制多个芯片中指定芯片供电或者掉电的控制;

所述终端控制模块,包含PC控制和LCD显示终端等两个部分,负责不同模式下测试执行的人机接口,不同工作模式下系统可自动切换显示方式,也能够在研发测试阶段由PC控制选择显示方式。

2.如权利要求1所述的电容式触控按键芯片检测标定系统,其特征在于所述插入检测及标定模块的开短路测试,分为管脚开路和管脚短路两种方式的检测,两种检测方式以提示用户烧录接口的电气连接是否正常,以保证后续测试和操作的有效性。

3.如权利要求1所述的电容式触控按键芯片检测标定系统,其特征在于所述通信控制及寄存器配置模块,研发测试模式下主要是接收PC端发送的控制命令,利用ARM处理器内置的USB模块实现对USB电源管理、USB描述符、USB枚举、USB读写传输、端点分配管理、命令解析和数据传输,调试根据解析的数据提取出命令和数据,然后将配置数据通过寄存器配置模块对被测芯片进行相应的读写操作;批量测试模式下主要是接收按键信息,提取出相应的功能及配置数据,然后根据配置数据进行寄存器的读写操作,完成此模式下的功能配置。

4.如权利要求1所述的电容式触控按键芯片检测标定系统,其特征在于所述差错处理模块实现各功能模块在程序运行过程的错误处理机制、数据的效验机制,数据出错处理及数据重传,超时处理;系统与被测芯片在通信中数据的读写需要相应的等待时间,如果超出程序设定的时间则会进行溢出处理;效验处理,当接收到的效验码与计算出的效验码不匹配时丢弃本次数据,重新接收。

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