[发明专利]一种电容式触控按键芯片检测标定系统及方法

说明书

本发明公开了一种电容式触控按键芯片检测标定系统及方法，该系统包括有插入检测及标定模块、通信控制及寄存器配置模块、数据存储模块、按键处理模块、对比分析模块、差错处理模块、电源控制模块和终端控制模块；该检测系统及方法能够对多个触控按键芯片进行灵敏度性能测量及时钟标定，具备芯片插入检测、双层模式下终端图形化性能显示、对比分析、多电压输出控制、控制软件实时记录保存数据和系统差错处理等功能。

技术领域

本发明属于集成电路技术领域，特别涉及一种触控按键芯片的检测系统及方法。

背景技术

为了满足触控按键高可靠性和耐久性的应用需要，对电容触控按键产品的性能指标应用场景提出了很高的要求。传统的电容触控按键芯片测试系统局限于可操作性与通用性较差，且模块化耦合程度较高，每种配置需要不同的硬件设计，成本较高；采用外搭电路的方法，使得电路不稳定和测试数据不可靠；缺乏相同指标的业界对比分析；测试数据需要人工手动记录，操作不当容易引进人为干扰，重复性工作量较大，人力成本和时间成本较高；没有专用的触控按键芯片测试系统，对于测试人员来说，如何才能设计出一个稳定的测试系统将触控芯片性能指标准确的检测出来，以提高芯片设计的可靠性及稳定性，显得非常重要。

如专利申请201210082956.1公开了一种测试触控面板的方法包括下列步骤：提供该触控面板；提供触控面板测试软件，其包含数据可变参数，该数据可变参数包括接口设定可变参数、触控芯片可变参数、自动测试可变参数及手动测试可变参数中的至少一种；以及决定对应于该触控面板的数据可变参数，以对该触控面板进行测试。

然而，目前的电容触控按键检测装置在进行灵敏度性能指标测量及标定时可靠性和稳定性差，测试实现困难且通用性差，需要搭建电路实现，人为操作加进干扰存在，使得测试数据在一定程度上真实性降低，复测造成测试重复劳动量大，不同项目的电容触控按键芯片测试需要重新搭建测试平台而造成通用性较差，且无法对芯片进行在线接触性检测，只能进行单颗芯片测试，模块之间的耦合性太强，模块无法进行快速的移植。

发明内容

基于此，因此本发明的首要目地是提供一种电容式触控按键芯片检测标定系统及方法，该检测系统及方法能够对多个触控按键芯片进行灵敏度性能测量及时钟标定，具备芯片插入检测、双层模式下终端图形化性能显示、对比分析、多电压输出控制、控制软件实时记录保存数据和系统差错处理等功能。

本发明的另一个目地在于提供一种电容式触控按键芯片检测标定系统及方法，该检测系统及方法利用软硬件协同设计的方法，最大程度的节省硬件成本和软件设计周期，利用板载集成设计思想避免外搭电路带来的不稳定因素，系统利用率高，结合控制终端统一控制增加自动化元素，研发测试和批量测试两种用户体验模式，给芯片设计提供更多的参考依据，同时提高人员工作效率。

为实现上述目的，本发明的技术方案为：

一种电容式触控按键芯片检测标定系统，其特征在于该系统包括有插入检测及标定模块、通信控制及寄存器配置模块、数据存储模块、按键处理模块、对比分析模块、差错处理模块、电源控制模块和终端控制模块，

所述插入检测及标定模块，主要是对所接触芯片管脚的电气连接特性进行检测，对被检测芯片的烧录接口及其他通信管脚进行连接性检查即开短路测试，分为管脚开路和管脚短路两种方式的检测，两种检测方式以提示用户烧录接口的电气连接是否正常，以保证后续测试和操作的有效性；

所述数据存储模块是存放文件索引表、客户hex的代烧录程序文件、触控按键检测hex文件、芯片型号及标识信息及芯片设计指标等相关数据，系统收到数据存储命令，进行存储模块初始化，将数据存储于数据存储模块，在研发测试阶段准备接收hex烧录及测试文件，并将数据存储到外部存储器模块，同时反馈数据传输信息以提示，在批量测试阶段从存储模块读取触控按键专用测试hex数据；