[发明专利]显示基板异物的处理装置、显示基板异物的处理方法有效
申请号: | 201710228690.X | 申请日: | 2017-04-10 |
公开(公告)号: | CN106842650B | 公开(公告)日: | 2019-06-07 |
发明(设计)人: | 井杨坤 | 申请(专利权)人: | 京东方科技集团股份有限公司;合肥京东方光电科技有限公司 |
主分类号: | G02F1/13 | 分类号: | G02F1/13 |
代理公司: | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人: | 柴亮;张天舒 |
地址: | 100015 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 显示 异物 处理 装置 方法 | ||
本发明提供一种显示基板异物的处理装置、显示基板异物的处理方法,属于显示技术领域,其可解决现有的研磨彩膜基板的颗粒异物易产生粉尘、造成物理损伤的问题。本发明的显示基板异物的处理装置采用检测单元检测显示基板上异物的位置、尺寸及形貌,然后根据异物的位置、尺寸及形貌采用熔融部将需要去除的异物加热至熔融态使其软化,再用研磨部对异物进行研磨,这样的研磨大大减少了颗粒物或粉尘的产生,可以防止颗粒物划伤或污染显示基板的其他位置处。本发明的显示基板异物的处理装置适用于处理各种显示基板异物。
技术领域
本发明属于显示技术领域,具体涉及一种显示基板异物的处理装置、显示基板异物的处理方法。
背景技术
TFT-LCD主要包括阵列基板(Array)、彩膜基板(CF),以及夹在阵列基板(Array)、彩膜基板(CF)之间的液晶。其中,彩膜基板的主要功能是实现TFT-LCD的色彩显示,彩膜基板主要是通过涂布、曝光、显影、烘烤等生产工艺,在玻璃基板表面形成黑矩阵、彩色滤光层及隔垫物,隔垫物的作用是支撑阵列基板与彩膜基板,使得二者之间的间隙形成液晶盒。彩膜基板的制程中,在烘烤前黑矩阵及彩色滤光层材料的膜层处于未完全烘干状态,设备内部、环境中的颗粒异物易掉落在上述材料表面,从而粘附或包裹在上述材料中,且在后续的制程中颗粒异物无法清洗去除,致使烘烤后粘附于彩膜中,形成不良点。当颗粒异物高度超出隔垫物高度时,在对盒后会形成亮点、暗点等不良,影响显示器件的性能。因此在彩膜制程中,必须对这些颗粒异物进行去除。现有技术中采用在彩膜基板表面滑动的方式检测超出隔垫物高度的颗粒异物,然后通过研磨设备对超出隔垫物高度的颗粒异物进行研磨。
发明人发现现有技术中至少存在如下问题:这种物理研磨在研磨过程中会产生粉尘,污染彩膜基板周围的显示器件,还会致使研磨处造成一定的物理损伤,形成蜂眼。
发明内容
本发明针对现有的研磨彩膜基板的颗粒异物易产生粉尘、造成物理损伤的问题,提供一种显示基板异物的处理装置、显示基板异物的处理方法。
解决本发明技术问题所采用的技术方案是:
一种显示基板异物的处理装置,包括:
检测单元,用于识别显示基板上的异物,并将识别结果反馈控制单元;
异物处理单元,用于根据所述检测单元的识别结果将至少部分异物除去;
与所述检测单元、异物处理单元连接的控制单元,用于控制检测单元、异物处理单元运行。
优选的是,所述检测单元包括图像采集部和图像处理部;所述图像采集部包括显微镜和拍照器;所述显微镜用于将显示基板上的异物进行放大,所述图像采集部用于对放大的显示基板上的异物进行拍照以获取异物放大后的图像;所述图像处理部用于根据所述异物的图像的灰度识别异物的位置、尺寸及形貌。
优选的是,所述异物处理单元包括:
熔融部,用于根据所述检测单元的识别结果将异物加热至熔融态;
研磨部,用于对熔融态的异物进行研磨以将异物除去。
优选的是,所述熔融部包括激光器,用于向所述异物发射激光以使异物加热至熔融态。
优选的是,所述熔融部还包括反射镜和聚焦镜,用于调整所述激光器发出的激光的方向和激光的强度。
优选的是,所述研磨部包括与控制单元连接的移动杆,所述移动杆的一端设有研磨头,所述移动杆的两侧各设有一个自转轴,所述研磨带的两端分别缠绕于所述自转轴上,所述研磨带中部与研磨头接触以使研磨头在研磨带的带动下进行摩擦。
本发明还提供一种显示基板异物的处理方法,包括以下步骤:
(1)采用检测单元识别显示基板上的异物;
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