[发明专利]一种基于投影图解的三维产权体空间界址点的测量方法

权利要求书

1.一种基于投影图解的三维产权体空间界址点的测量方法，其特征在于，包括：

根据三维产权体空间界址点的绝对位置确定所述三维产权体空间界址点的类型；

根据所述三维产权体空间界址点的类型确定所述三维产权体的类型；

根据三维产权体空间界址点的相对位置判断所述三维产权体空间是否存在折点；

根据判断结果以及所述三维产权体的类型确定所述三维产权体在地表投影后的地表界址点；

根据投影后的地表界址点和绝对位置重建所述三维产权体空间界址点，以实现对所述三维产权体空间界址点的测量。

2.如权利要求1所述的测量方法，其特征在于，所述根据所述三维产权体空间界址点的类型确定所述三维产权体的类型，具体包括：

确定所述三维产权体空间的最顶部界址点的类型和最底部界址点的类型；

根据所述三维产权体空间的最顶部界址点的类型和最底部界址点的类型确定所述三维产权体的类型。

3.如权利要求2所述的测量方法，其特征在于，所述三维产权体的类型包括：

地上三维产权体、地表上三维产权体、半地上或半地下三维产权体、地表下三维产权体、地下三维产权体。

4.如权利要求1所述的测量方法，其特征在于，所述根据三维产权体空间界址点的相对位置判断所述三维产权体空间是否存在折点，具体包括：

确定所述三维产权体空间的平面片的分类；

确定所述三维产权体空间的边的分类；

根据所述三维产权体空间界址点的所属平面片的分类、所述三维产权体空间界址点的所属边的分类确定所述三维产权体空间界址点的分类，根据所述三维产权体空间界址点的分类判断所述三维产权体空间是否存在折点。

5.如权利要求4所述的测量方法，其特征在于，所述三维产权体空间的平面片的分类包括：顶面、底面、折面、侧面；

所述三维产权体空间的边的分类包括：顶面边、底面边、折面边、侧面边；

所述三维产权体空间界址点的分类包括：顶面点、底面点、折面点、侧面点，其中，所述折面点为折点，所述顶面点、底面点以及侧面点为非折点。

6.如权利要求3所述的测量方法，其特征在于，所述根据判断结果以及所述三维产权体的类型确定所述三维产权体在地表投影后的地表界址点，具体包括：

在所述三维产权体的类型为地上三维产权体，且所述地上三维产权体不存在折点时，确定所述三维产权体在地表投影后得到的地表虚点；

在所述三维产权体的类型为地上三维产权体，且所述地上三维产权体存在折点时，确定所述三维产权体在地表投影后得到的地表虚点；

在所述三维产权体的类型为地表上三维产权体，且所述地表上三维产权体不存在折点时，确定所述三维产权体在地表投影后得到的地表实点；

在所述三维产权体的类型为地表上三维产权体，且所述地表上三维产权体存在折点时，确定所述三维产权体在地表投影后得到的地表实点，或者，确定所述三维产权体在地表投影后得到的地表实点和地表虚点；

在所述三维产权体的类型为半地上或半地下三维产权体，且所述半地上或半地下三维产权体不存在折点时，确定所述三维产权体在地表投影后得到的地表实点；

在所述三维产权体的类型为半地上或半地下三维产权体，且所述半地上或半地下三维产权体存在折点时，确定所述三维产权体在地表投影后得到的地表实点，或者，确定所述三维产权体在地表投影后得到的地表实点和地表虚点；

在所述三维产权体的类型为地表下三维产权体，且所述地表下三维产权体不存在折点时，确定所述三维产权体在地表投影后得到的地表实点；

在所述三维产权体的类型为地表下三维产权体，且所述地表下三维产权体存在折点时，确定所述三维产权体在地表投影后得到的地表实点，或者，确定所述三维产权体在地表投影后得到的地表实点和地表虚点；

在所述三维产权体的类型为地下三维产权体，且所述地下三维产权体不存在折点时，确定所述三维产权体在地表投影后得到的地表虚点；

在所述三维产权体的类型为地下三维产权体，且所述地下三维产权体存在折点时，确定所述三维产权体在地表投影后得到的地表虚点。

7.如权利要求6所述的测量方法，其特征在于，所述根据投影后的地表界址点和绝对位置重建所述三维产权体空间界址点，以实现对所述三维产权体空间界址点的测量，具体包括：

在投影后的地表界址点为地表虚点时，将地表虚点的平面位置与绝对位置结合，重建所述三维产权体空间界址点的立体坐标后，移除所述地表虚点；

在投影后的地表界址点为地表实点时，将地表实点的平面位置与绝对位置结合，重建所述三维产权体空间界址点的立体坐标，并保留所述地表实点。