[发明专利]一种电容计数设备及方法

权利要求书

1.电容计数设备，其特征在于：该设备包括机台、感应装置、摄像装置、终端处理器、挡板和放电装置，挡板设置在机台的台面上，摄像装置设置在机台的上方，摄像装置包括图像采集模块和图像分析模块，图像采集模块分别连接图像分析模块和感应装置，终端处理器分别连接图像分析模块和放电装置，放电装置和挡板连接，所述放电装置包括放电开关和气缸，放电开关分别连接气缸和终端处理器，挡板与气缸连接；

电容计数方法，包括以下步骤：

S01、电容包装箱放入机台的台面，感应装置感应电容包装箱并将信号传输给摄像装置；

S02、图像采集模块获取感应装置的信号并采集电容图像；

S03、图像分析模块获取电容图像并进行电容目标检测，得到电容数量；

S04、终端处理器根据检测的电容数量控制放电装置，若电容数量符合预设值，则终端处理器输出信号给放电装置，放下挡板并推入电容进行放电、封装，否则执行步骤S05；

S05、挡板不放下，操作员进一步确认电容个数；所述步骤S03中进行电容目标检测进一步包括以下步骤：

S031、设置模板图像，将电容图像和模板图像均从RGB空间转化到HSV空间，获取模板图像的V通道图像记为Modle图像和电容图像的V通道图像记为F图像；

S032、Modle图像沿着F图像逐个像素点遍历，获取F图像上被Modle图像覆盖的区域图像，对Modle图像与区域图像进行灰度相关性匹配和空间结构相关性匹配，获取灰度相似度值和空间结构相似度值；

S033、判断灰度相似度值和空间结构相似度值是否均大于预设的阈值，若均大于预设的阈值，则当前区域有电容目标，否则当前区域没有电容目标；

S034、遍历步长跨出模板图像的尺度，再逐个像素遍历；

所述步骤S032中灰度相关性匹配和空间结构相关性匹配分别采用如下公式：

灰度相似度值

其中，H₁(t)为模板图像的灰度直方图，H₂(t)为当前覆盖区域图像的灰度直方图，t为像素点的灰度级，t＝0,1,2,…,255；

空间结构相似度值

其中，W₁和W₂均为特征向量，W₁为以Modle图像中心为原点，以Modle图像尺度大小的三分之一为半径的圆周上像素点的灰度值，则特征向量W₁＝(W₁₁，W₁₂，…，W_1K，…，W_1n)，W₂为以当前覆盖的区域图像中心为原点，以区域图像尺度大小的三分之一为半径的圆周上像素点的灰度值，则特征向量W₂＝(W₂₁，W₂₂，…，W_2K，…，W_2n)，其中，n为圆周上的像素点个数，K为圆周上第K个像素点,W_1K为Modle图像所成圆周中第K个像素点的灰度值,W_2K为区域图像所成圆周中第K个像素点的灰度值。

2.根据权利要求1所述的电容计数设备，其特征在于：所述感应装置为光电开关传感器。

3.根据权利要求2所述的电容计数设备，其特征在于：所述光电开关传感器设置在挡板上。