[发明专利]用于在CT成像系统中使用的检测器组件在审

专利信息
申请号: 201710276245.0 申请日: 2017-04-25
公开(公告)号: CN107303185A 公开(公告)日: 2017-10-31
发明(设计)人: B.L.伯尔斯;S.K.巴苏 申请(专利权)人: 莫福探测仪器有限责任公司
主分类号: A61B6/03 分类号: A61B6/03;A61B6/00
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司72001 代理人: 周学斌,郑冀之
地址: 美国加利*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 用于 ct 成像 系统 使用 检测器 组件
【权利要求书】:

1.一种用于CT成像系统的检测器组件,所述检测器组件包括:

闪烁器块,其包括多个像素,每个像素被配置成接收在传输方向上行进的x射线束;

多个光电二极管;以及

光导,其被耦合在所述闪烁器块与所述多个光电二极管之间,所述光导包括多个光管,

每个光管被配置成将从所述多个像素中的像素发出的光引导到所述多个光电二极管中的相关联的光电二极管中,其中,每个像素具有基本上垂直于传输方向的第一横截面面积,其中,每个光电二极管具有基本上垂直于传输方向的第二横截面面积,并且其中,第一横截面面积不同于第二横截面面积。

2.根据权利要求1所述的检测器组件,其中,所述多个光电二极管被相互邻近地布置以形成连续阵列。

3.根据权利要求1所述的检测器组件,其中,所述多个光电二极管被相互间隔开。

4.根据权利要求1所述的检测器组件,其中,所述光导由玻璃、环氧树脂、透明塑料、x射线检测材料以及硅树脂中的一种制成。

5.根据权利要求1所述的检测器组件,其中,所述闪烁器块与所述多个光电二极管之间的距离是约5至10毫米。

6.根据权利要求1所述的检测器组件,其中,所述多个光管的表面涂敷有漫射涂层和反射涂层中的一种。

7.根据权利要求1所述的检测器组件,其中,所述第一横截面面积与所述第二横截面面积的比是约4:1。

8.一种用于在CT成像系统中使用的光导,所述光导包括从所述光导的第一端延伸到所述光导的第二端的多个光管,其中,在所述第一端处,所述多个光管中的每个光管具有第一横截面面积,其基本上等于相应像素的横截面面积,其中,在所述第二端处,每个光管具有第二横截面面积,其基本上等于相应光电二极管的横截面面积,并且其中,第一横截面面积不同于第二横截面面积。

9.根据权利要求8所述的光导,其中,第一横截面面积大于第二横截面面积。

10.根据权利要求8所述的光导,其中,每个光管在第一和第二横截面面积之间逐渐地过渡。

11.根据权利要求8所述的光导,其中,所述光导由玻璃、环氧树脂、透明塑料、x射线检测材料以及硅树脂中的一种制成。

12.根据权利要求8所述的光导,其中,所述第一端与所述第二端之间的距离是约5至10毫米。

13.根据权利要求8所述的光导,其中,所述多个光管的表面涂敷有漫射涂层和反射涂层中的一种。

14.根据权利要求8所述的光导,其中,所述第一横截面面积与所述第二横截面面积的比是约4:1。

15.一种组装用于在CT成像系统中使用的检测器组件的方法,所述方法包括:

将光导耦合到包括多个像素的闪烁器块,其中,每个像素被配置成接收在传输方向上行进的x射线束;以及

将多个光电二极管耦合到所述光导,其中,所述光导包括多个光管,每个光管被配置成将从所述多个像素中的像素发出的光引导至所述多个光电二极管中的相关联的光电二极管中,其中,每个像素具有基本上垂直于传输方向的第一横截面面积,其中,每个光电二极管具有基本上垂直于传输方向的第二横截面面积,并且其中,第一横截面面积大于第二横截面面积。

16.根据权利要求15所述的方法,其中,耦合多个光电二极管包括耦合被相互邻近地布置的多个光电二极管以形成连续阵列。

17.根据权利要求15所述的方法,其中,耦合多个光电二极管包括耦合被相互间隔开的多个光电二极管。

18.根据权利要求15所述的方法,其中,耦合光导包括耦合由玻璃、环氧树脂、透明塑料、x射线检测材料以及硅树脂中的一种制成的光导。

19.根据权利要求15所述的方法,还包括用漫射涂层和反射涂层中的一种涂敷所述多个光管的表面。

20.根据权利要求15所述的方法,其中,耦合多个光电二极管包括耦合多个光电二极管以使得第一横截面面积与第二横截面面积的比是约4:1。

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