[发明专利]用于在CT成像系统中使用的检测器组件

说明书

背景技术

本文中描述的实施例一般地涉及CT成像系统，并且更特别地涉及用于CT成像系统的检测器组件。

在某些计算机断层成像（CT）成像系统中，x射线源投射扇形射束，其被准直成落在笛卡尔坐标系的X-Y平面内，并且一般地称为“成像平面”。x射线束通过被成像的对象。射束在被对象衰减之后撞击在辐射检测器阵列上。在检测器阵列处接收到的已衰减辐射射束的强度取决于对象对x射线束的衰减。阵列的每个检测器元件产生单独的电信号，其是每个检测器位置处的射束强度的测量结果。来自所有检测器的强度测量结果被单独地获取以产生传输分布并重构对象的图像。

用于至少某些已知CT成像系统的检测器组件包括闪烁器中的紧密堆积的像素阵列和相应的二极管阵列。像素阵列的面积通常与二极管阵列的面积匹配，其可以要求制造自定义硅二极管以匹配像素的尺寸。因此，使用与像素的尺寸匹配的二极管可能是相对昂贵的。

发明内容

在一个方面，提供了一种用于CT成像系统的检测器组件。该检测器组件包括闪烁器块，该闪烁器块包括多个像素，每个像素被配置成接收在传输方向上行进的x射线束；多个光电二极管；以及光导，其被耦合在所述闪烁器块与所述多个光电二极管之间，该光导包括多个光管，每个光管被配置成将从所述多个像素中的像素发出的光引导到所述多个光电二极管中的相关联的光电二极管中，其中，每个像素具有基本上垂直于传输方向的第一横截面面积，其中，每个光电二极管具有基本上垂直于传输方向的第二横截面面积，并且其中，第一横截面面积不同于第二横截面面积。

在另一方面，提供了一种用于在CT成像系统中使用的光导。该光导包括从该光导的第一端延伸到该光导的第二端的多个光管，其中，在第一端处，所述多个光管中的每个光管具有第一横截面面积，其基本上等于相应像素的横截面面积，其中，在第二端处，每个光管具有第二横截面面积，其基本上等于相应光电二极管的横截面面积，并且其中，第一横截面面积不同于第二横截面面积。

在另一方面，提供了一种组装用于在CT成像系统中使用的检测器组件的方法。该方法包括将光导耦合到包括多个像素的闪烁器块，其中，每个像素被配置成接收在传输方向上行进的x射线束；以及将多个光电二极管耦合到所述光导，其中，所述光导包括多个光管，每个光管被配置成将从所述多个像素中的像素发出的光引导至所述多个光电二极管中的相关联的光电二极管中，其中，每个像素具有基本上垂直于传输方向的第一横截面面积，其中，每个光电二极管具有基本上垂直于传输方向的第二横截面面积，并且其中，第一横截面面积大于第二横截面面积。

附图说明

图1是示例性CT成像系统的透视图。

图2是图1中所示的CT成像系统的示意图。

图3是可以与图1—3中所示的CT成像系统一起使用的示例性计算设备的框图。

图4是可以与图1中所示的CT成像系统一起使用的示例性检测器组件的示意图。

图5是可以与图1中所示的CT成像系统一起使用的替换检测器组件的示意图。

图6是示例性检测器组件的透视图。

具体实施方式

本文中所述的系统和方法提供用于CT成像系统的检测器组件。该检测器组件包括闪烁器块，其包括多个像素。每个像素被配置成接收在传输方向上行进的x射线束。所述检测器组件还包括多个光电二极管，以及耦合在所述闪烁器块与所述多个光电二极管之间的光导。每个像素具有第一横截面面积且每个光电二极管具有第二横截面面积。第一横截面面积大于第二横截面面积。

现在参考图1和2，示出了计算机断层成像（CT）成像系统10。CT成像系统被示为具有表示CT扫描仪的构台12、控制系统14以及用于将对象18（诸如一件行李）定位于通过构台12定义的构台开口20中的机动化传送带16。构台12包括x射线源22，其朝着在构台12的相对侧的检测器阵列26投射x射线24的扇形射束。检测器阵列26由检测器元件28形成，该检测器元件是辐射检测器，其每个产生具有表示并取决于在x射线束已经通过被成像的对象18之后的已衰减x射线束的强度的量值的信号。在获取x射线投射数据的螺旋扫描期间，构台12连同x射线源22和检测器阵列26一起在x-y平面内且绕着旋转中心围绕着对象18旋转，而对象18在垂直于旋转的x-y平面的z方向32上移动穿过构台12。在此示例性实施例中，检测器阵列26包括多个检测器环，每个检测器环具有多个检测器元件28，该检测器环具有对应于x射线源22的有角度配置。