[发明专利]一种三维光学测量方孔垂直差的方法

权利要求书

1.一种三维光学测量方孔垂直差的方法，其特征在于：所述一种三维光学测量方孔垂直差的方法是通过如下步骤实现的：

步骤一、光学模式工件定位；

步骤二、光学模式建立工件坐标系；

步骤三、光学模式与探针模式切换：切换到探针模式；点击System图标，点击Change Sensor图标，选择Get Stylus，标准配置为1mm探针故选取1mm探针，将其安装到测头装置上；此时屏幕会出现一个探针的图像，代表切换成功；

步骤四、测量试验件的A、B、C、D四个平面；

步骤五、垂直差评价：选择评价模式，点击垂直差评价图标，选取被评价要素，将评价结果保存并生成TXT文件；最后将完成的测量及评价程序保存；

步骤六、光学引导探针实现自动测量。

2.根据权利要求1所述一种三维光学测量方孔垂直差的方法，其特征在于：步骤一种光学模式工件定位的具体过程为：将工件摆放位置并固定好，选择Protractor target图标，屏幕中央会出现图中红色十字带角度的光标的，角度可以随意变化；根据工件摆放位置，调整图标的位置，使得中心在工件相邻两边的交点上，图标两个边与工件两边重合，如位置1所示，对坐标X、Y、Z清零；沿X轴方向移动平台，使得光标与另一角重合，与上述调整方式一样，调整好后如位置2所示，Y轴清零；此时工件定位完毕。

3.根据权利要求1所述一种三维光学测量方孔垂直差的方法，其特征在于：步骤二中光学模式建立工件坐标系的具体过程为：在测量模式，选取测量点的功能，在方孔同一个平面内，其中任意一边选取两个点a和点b，在相邻一边选取一个点c；选择构造模式，选取测量的a、b、c三点构造一个平面，选取相邻两点中的一点a作为坐标系的原点，连接a点和b点构造一条直线作为X轴；Y轴垂直于构造的平面，根据右手螺旋定则Z轴的位置也就确定。

4.根据权利要求1所述一种三维光学测量方孔垂直差的方法，其特征在于：步骤四中测量试验件的A、B、C、D四个平面的具体过程为：将探针移动到被测方孔上方，确定为安全位置设置安全点。选取测量平面模式，测量A平面，根据孔的大小决定测量点数，一般测量5点；其中4点尽量均匀分布在整个平面上，最后在平面中央测量1点；平面A测量结束后设置安全点；然后按照测量A平面的方式测量平面B、平面C和平面D，四个平面都测量完毕后，在试拉件上方一段距离设置安全点，测量结束。

5.根据权利要求1所述一种三维光学测量方孔垂直差的方法，其特征在于：步骤六中光学引导探针实现自动测量的具体过程为：换一个新工件，新建测量任务，选取Protractor target图标，光学模式定位工件；定位完毕后，调用已保存的程序，选择Step edit功能，从第一步开始，自动执行，光学建立工件坐标系，转换探针模式，根据光学引导自动找到工件位置，开始测量平面，测量完毕后，自动评价垂直差并将结果输出TXT文本。